Баррета
Cтраница 2
 |
Схема съемки рентгенограмм по методу Берга-Баррета. [16] |
Полученные формулы (15.1) - (15.4) используют для анализа субструктуры материалов с размером субзерен более 5 мкм, например в методе Берга - Баррета и его модификациях. [17]
Арнольда Arnold method асимптотический - asymptotic method астрономические - ы astronomical techniques - атомного пучка atomic-beam method - атомных орбиталей ( в ион-атомных столкновениях) atomic orbital method - Берга - Баррета ( в рентгеновской топографии) Berg-Barrett method бестигельный - крист. [18]
Описан усовершенствованный метод расчета распределения пор по размерам на основании изотерм адсорбции, который, как полагают авторы, может дать сведения и о форме пор. Баррета, Джойнера и Халенда [5], но метод расчета более точен. [19]
Указанные методы выявляют дефекты структуры по всему объему кристалла. Метод Берга - Баррета хотя и использует отраженные рентгеновские лучи, но также выявляет дефекты на глубине порядка нескольких микронов. Следовательно, сделанные выше замечания относительно электронной микроскопии остаются в силе и в данном случае. В зависимости от плотности дислокаций и толщины образца отдают предпочтение тому или иному рентгеноскопическому методу. [20]
Уравнение Кельвина обычно применяется непосредственно к десорбционной ветви изотермы [1], и результаты, полученные на его основе, несомненно дают качественную картину структуры пор. Методы Кармана [4] и Баррета, Джойнера и Халенда [5] представляют особый интерес, так как они учитывают многослойную адсорбцию во всем интервале относительных давлений без предварительного допущения какого-либо частного типа распределения пор по размерам. Обе группы исследователей пришли к выводу, что их методы должны применяться к десорбционной ветви изотермы. [21]
Исследование осуществлялось методами металлографии, рентгеновского двухкристального спектрометра и Берга - Баррета, а также методом ТЭМ. Обнаружено, что после 2 107 числа циклов появляется тонкий рельеф скольжения и разориентации на площадках 110, а также резкий градиент дислокационной структуры от поверхности. На глубине приблизительно 1 мкм обнаружены частично заросшие бездислокационные каналы и PSB. Обсуждается механизм образования бездислокационных каналов и локализации в последних пластической деформации. [22]
Рентгеновская спектроскопия, как и рентгеновская флуоресцентная спектроскопия - спектрохимические методы идентификации различных элементов, присутствующих в твердых телах [491] - еще далеко не нашли достаточно полного применения. Однако сейчас находит все большее применение метод рентгеновской микроскопии, предложенный впервые Бергом [492] и Барретом [493] более тридцати лет назад. Например, Ньюкирк [494] использовал метод Берга - Баррета для определения положений участков с искаженной кристаллической решеткой, таких, как области, непосредственно окружающие дислокации в твердых телах. Ленг [495] разработал метод рентгеновской просвечивающей микроскопии, и этот метод может быть с успехом применен [496] для определения концентрации и распределения дислокаций и соответствующих им векторов Бюргерса в большинстве твердых тел. Возможность установления степени кристаллографической дисориентации, дефектов роста и напряжений в твердых телах является предпосылкой [497] для понимания роли дефектов кристаллической решетки в гетерогенном катализе ( см. гл. [23]
Страницы: 1 2