Наблюдение - микроструктура
Cтраница 1
Наблюдение микроструктуры позволяет судить в большинстве случаев об особенностях превращений, совершающихся в сплавах, поскольку многие пре-вращени сопровождаются весьма отчетливыми изменениями структуры. Так как между микроструктурой металла и его многими физическими № механическими свойствами, как показал Н. С. Курнаков, существует определенная зависимость, можно по структуре металла, наблюдаемой в микроскоп, качественно судить о многих его свойствах и о причинах, вызывающих их изменение. [1]
Наблюдение микроструктуры дает лишь предварительную информацию относительно зависимости физических и химических свойств материала от его микроструктуры. Важной особенностью микроструктуры является характер границ раздела фаз, а также границ между прилегающими зернами. В металлических системах граничная энергия зерна как для наклонных ( прямолинейных) границ, так и для сочетания прямолинейных границ с криволинейными вычисляется из основной теории дислокаций. Для кристаллов с ионными и ковалентными связями, в которых важную роль играют связи ближнего порядка между отдельными парами атомов, предполагается, что границы с большим углом наклона будут слабыми. На основании наблюдаемого уменьшения прочности по границам зерна Джилмен [3] смог прийти к выводу, что это ослабление является характеристикой, свойственной всем тугоплавким неметаллическим веществам. [2]
Наблюдение микроструктуры образца производится на его нижней поверхности через смотровое отверстие в дне камеры с помощью объектива. [3]
Наблюдение микроструктуры деформированных металлов с помощью электронной микроскопии, вероятно, достаточно хорошо отражает общую картину из-за случайного выбора небольших участков материала, прозрачных для электронов, в образцах, полученных обычными методами приготовления тонких фольг. Исследования текстуры также дают усредненную информацию. Следовательно, есть опасение, что локальные особенности структуры ( например, переходные и деформационные полосы) при использовании этих методов останутся незамеченными. Было обнаружено, что переходные полосы являются областями зарождения при рекристаллизации [13, 14] в прокатанных кристаллах кремнистого железа, ориентированного по направлениям куба. [4]
Для четкого наблюдения микроструктуры важно создать определенные условия освещения шлифа. [5]
 |
Схема темнопольного освещения. [6] |
Для четкого наблюдения микроструктуры важно создать определенные условия освещения шлифа. Контрастность изображения возрастает с увеличением интенсивности освещения. Поэтому с учетом сложного пути луча в микроскопе и значительных потерь света применяемые источники света должны обладать достаточной мощностью при сравнительно малых габаритах. Для этих целей в современных металломикроскопах обычно используют кварцевые лампы с йодным циклом ( галогенные лампы), а для получения наибольшей интенсивности - ксеноновые лампы высокого давления. Для уменьшения потерь интенсивности падающего света в некоторых микроскопах вместо - полупрозрачной пластинки в ход лучей вводят призму. [7]
Проверка достигнутых результатов может быть произведена наблюдением микроструктуры поперечного сечения цементированного образца. Переходя постепенно от центра к периферии, мы должны наблюдать под микроскопом непрерывное изменение структуры от мягкой стали ( железа) с преобладанием феррита к твердой, вплоть до эвтектоидного состава с одним перлитом или даже до заэвтектоидного с сеткой избыточного цементита. [8]
Ход лучей в электронном микроскопе ( а - в режиме наблюдения микроструктуры объекта, б - в режиме микродифракции); 1 - источник электронов; 2, 4, 7 и 9 - соответственно конденсорная, объективная, промежуточная и проекционная линзы; 3 - объект; 5 - селекторная диафрагма; 6 и 8 - соответственно первое и второе промежуточные изображения; 10 - изображение объекта; 11 - дифракционная картина. [9]
Ход лучей в электронном микроскопе ( а - в режиме наблюдения микроструктуры объекта, б - в режиме микродифракции); 1 - источник электронов; S, 4, 7 и 9 - соответственно конденсорная, объективная, промежуточная и проекционная линзы; 3 - объект; 5 - селекторная диафрагма; 6 и 8 - соответственно первое и второе промежуточные изображения; 10 - изображение объекта; 11 - дифракционная картина. [10]
Отсюда стремление к комплексному фазовому анализу, например, сочетанию термических измерений разнообразных тепловых эффектов с наблюдением микроструктуры образца в проходящем или отраженном свете, измерению линейных или объемных изменений, потери в весе и др. Очевидно, однако, что при этом становится все более затруднительным наблюдать визуально измерение всего комплекса характеристик, причем в самом различном заданном тепловом режиме. Это трудно осуществлять как при исследовании быстро протекающих фазовых превращений, так и процессов, протекающих весьма длительно. Надежную помощь исследователю оказывают успехи в технике автоматической записи результатов самых разнообразных физических измерений на основе использования различного рода самописцев ( фотографических, либо электронных), а также общий прогресс в технике фиксации процессов на фото - и кинопленку. [11]
На рис. 2.1 представлены схемы микроструктуры грунта в зависимости от дозировки вяжущего, которые получены на основании теоретических исследований [102, 112], анализа физико-механических свойств ГФГ и наблюдений микроструктуры грунта под микроскопом МБС-9. На рис. 2.2, 2.3 представлены фотографии микроструктуры грунтов. [12]
На рис. 1 представлены схемы микроструктуры грунта в зависимости от дозировки вяжущего, которые получены на основании теоретических исследований [12, 21], анализа физико-механических свойств ГФГ и наблюдений микроструктуры грунта под микроскопом МБС-9. На рис. 2 3 представлены фотографии микроструктуры фунтов. [13]
На рис. 1 представлены схемы микроструктуры грунта в зависимости от дозировки вяжущего, которые получены на основании теоретических исследований [12, 21], анализа физико-механических свойств ГФГ и наблюдений микроструктуры грунта под микроскопом МБС-9. На рис. 2 3 представлены фотографии микроструктуры грунтов. [14]
 |
Схема фазовой диаграммы в координатах Т - е ( заштрихованная область соответствует стабильной мартенситной фазе. [15] |
Страницы: 1 2