Cтраница 1
Наборы эталонных образцов ( рис. 110, а) хранятся в пеналах. В каждом держателе имеются четыре образцовые пластины. При проверке чистоты поверхности берут эталонные образцы соответствующей формы, изготовленные из такого же металла и обработанные таким же способом, что и проверяемая деталь, и прикладывают к проверяемой детали. [1]
![]() |
Набор эталонов для проверки. [2] |
Наборы эталонных образцов ( рис. 96, а) хранятся в пеналах. В каждом держателе имеются четыре образцовые пластины. При проверке качества поверхности берут эталонные образцы соответствующей формы, изготовленные из такого же металла и обработанные таким же способом, что и проверяемая деталь, и прикладывают к проверяемой детали. [3]
![]() |
ИК-спектр поглощения каучука СКЭПТ с этилиденнорборненом.| Способ проведения базовых линий. [4] |
Для построения графика необходимо иметь набор эталонных образцов сополимеров с известным содержанием пропилена. Количество последнего должно составлять не менее 32 % ( мол. [5]
Для построения графика необходимо иметь набор эталонных образцов СКЭПТ с известным содержанием этилиденнорборнена. [6]
Для построения калибровочного графика используют набор эталонных образцов катализатора с различным содержанием алюминия. Наклон калибровочного графика, полученного для катализатора, отличается от наклона графика для диатомита. [7]
Для построения калибровочного графика необходимо иметь набор эталонных образцов сополимеров с известным содержанием пропилена в диапазоне 25 - 60 % ( мол. [8]
На пути рабочего пучка рентгеновских лучей находится измеряемая полоса 13 и набор эталонных образцов, состоящий из отдельных пластин 12 с дискретностью до 0 01 мм. [9]
![]() |
Эталонный образбц для определения размеров дефектов в цилиндрических изделиях. [10] |
Для определения размеров дефектов, например, в цилиндрических изделиях, необходимо иметь набор эталонных образцов для основных радиусов кривизны поверхности исследуемого изделия. Это объясняется тем, что радиус кривизны поверхности, с которой производится исследование, влияет на величину вводимой ( и отраженной от дефекта) энергии, так Kai последняя зависит от площади соприкосновения щупа с изделием. [11]
В настоящее время для настройки чувствительности ультразвуковых дефектоскопов и определения размеров обнаруженных дефектов применяют набор эталонных образцов с искусственными дефектами. Эти образцы сложны в изготовлении, громоздки и очень неудобны в работе. [12]
Для поверхностей, шлифованных и полированных в декоративных целях, определение класса чистоты обычно производится сравнением с набором эталонных образцов. [13]
Для поверхностей, шлифованных и полированных в декоративных целях, определение класса чистоты обычно производится сравнением с набором эталонных образцов. [14]
![]() |
Ионизация ( 5-частицами. [15] |