Cтраница 4
Уже при длинах / с, составляющих всего несколько единиц, можно пренебречь х по сравнению с / с, так что возрастание амплитуды осцилляции функции а и ( 3 будет пропорционально длине эры. [46]
На рис. 11.17 дано графическое изображение выражения ( 1 1.20), характеризующего изменение эквивалентного перемещения золотника Х3 в зависимости от перемещения X, амплитуды осцилляции А и величины перекрытия а. А, то при помощи такой кривой искомую зависимость Р ( X) можно построить простым изменением масштаба осей координат. [47]
В ней появляются осцилляции, но вплоть до значений 7 4 амплитуда осцилляции растет экспоненциально при р 2 - УОО, Однако при у4 амплитуда осцилляции перестает экспоненциально расти и при у4 становится экспоненциально убывающей. [48]
Пусть золотник перемещается по синусоидальному закону X - X зш и (, при этом со много меньше частоты осцилляции, а амплитуда колебаний X существенно больше амплитуды осцилляции А. [49]
В слабых полях размытие уровней Ландау за счет теплового движения ( - kT) и конечного времени релаксации ( - А / т) приводит к уменьшению амплитуды осцилляции. [50]
Если к близко к единице, особая точка оказывается вблизи крайней точки / 1, что сказывается на поведении кривых на рис. 8.2. Особенно ясно это проявляется на рис. 8.2 в, г, ибо при дифференцировании амплитуда осцилляции возрастает. [51]
Но при переходе от одной эры к следующей могут появиться, как было отмечено в разделе 3, очень малые значения pj, причем величина этих значений и вероятность их появления никак не связаны с достигнутой к этому моменту величиной амплитуд осцилляции. Поэтому не исключено в принципе появление и столь малых значений pl, для которых требуемое условие будет нарушено. [52]
Cj 0, яе 0), реализуя много осцилляции типа FEAE с диссипацией кинетической энергии при сильном уменьшении и даже исчезновении пузырьков с проявлением сжимаемости и вязкости жидкости, дроблением пуз яръков, является громоздкой и сложной задачей. Амплитуда осцилляции оценивается формулой (6.10.38), и наиболее сложным является предсказание времени существования осцилляции или толщины осцнлляциопного хвоста. Этот вопрос может быть существенным, так как при схло-пывашш паровых пузырьков реализуется достаточно много осцилляции, и хвост волны мо кет иметь значительную протяженность. [53]
Период осцилляции Р Л ( 1 / Я) зависит не от напряженности магнитного поля и температуры, а от ориентации напряженности поля относительно гексагональной оси кристалла графита и определяется видом носителей тока. Амплитуда осцилляции уменьшается с ростом температуры, и при высоких температурах осцилляции исчезают совсем. По этой температурной зависимости можно определять эффективные массы носителей тока, хотя точность подсчета в этом случае мала. [54]
С l) B однофазное равновесное состояние е ( ki 0, а 0), реализуя много осцилляции типа FEAE с диссипацией кинетической энергии при сильном уменьшении и даже исчезновении пузырьков с проявлением сжимаемости и вязкости жидкости, дроблением пузырьков, является громоздкой и сложной задачей. Амплитуда осцилляции оценивается формулой (6.10.38), и наиболее сложным является предсказание времени существования осцилляции или толщины осцилляционного хвоста. Этот вопрос может быть существенным, так как при схло-пывании паровых пузырьков реализуется достаточно много осцилляции, и хвост волны может иметь значительную протяженность. [55]
Из рисунка видно, что в поле отрицательного заряда электронная плотность ( хвост электронной плотности) вытягивается в сторону контактирующей с металлом среды, а плотность HQ ( z 0) увеличивается. Амплитуда осцилляции электронной плотности для ртути меняется очень мало. [56]
При переходе в область частот, превышающих критическую, период поля становится слишком мал по сравнению с временем релаксации пространственного заряда. Амплитуда осцилляции пространственного, избыточного заряда в такт с внешним полем падает до нуля, но каждой частоте соответствует свой средний заряд 8qm cos qx, периодически распределенный по пространству и не зависящий от времени. Пространственная амплитуда этого стационарного заряда уменьшается по мере увеличения частоты. С другой стороны, для таких высоких пороговых полей, которые реально имеют место на высоких частотах, время полевой реакции директора становится очень малым, меньшим, чем период поля. Эти осцилляции заряда сопровождаются осцилляциями потока жидкости, но не стационарными вихрями, а движением по направлениям туда - обратно, максимальными там, где максимальна пространственная амплитуда заряда. Этот режим неустойчивости называется диэлектрическим, хотя он также обусловлен анизотропией электропроводности. [57]
Однако, если амплитуду колебаний численного решения, вызванных дискретностью счета на ЭВМ, можно понизить, уменьшая шаг интегрирования, то амплитуда истинных осцилляции [8], обусловленных колебательным характером химического процесса, при этом остается неизменной. Кроме того, амплитуды осцилляции решения, обусловленные дискретностью счета, могут возрастать и неограниченно, что может привести к нарушению закона сохранения вещества и даже вызвать появление отрицательных значений концентраций. С истинными колебаниями решений системы ( 1) подобные явления не происходят. Таким образом, различное поведение двух типов колебаний решений системы ( 1) в принципе позволяет отделить эти колебания друг от друга. [58]
Такие мощные экспериментальные методы, дающие прямую информацию об электрических подзонах, как эффект Шубникова - де Гааза и инфракрасная спектроскопия, были применены исследователями лишь недавно. Из температурной зависимости амплитуды осцилляции Шубникова - де Гааза обе исследовательские группы определяли зависимость эффективной массы от концентрации дырок. Они показали, что с ростом Ns эффективная масса заметно возрастает. Между результатами двух этих групп имеется существенное различие. Ниже будут обсуждаться различные предлагавшиеся теории, согласующиеся как с одной, так и с другой совокупностью экспериментальных результатов и являвшиеся предметом дискуссии. [59]