Cтраница 4
Интерференционный микроскоп сравнения ( ИМС.| Схема теневого метода контроля сферической поверхности.| Схема контроля методом светового сечения. [46] |
Для измерения перемещения иглы используют принцип оптического рычага. Смещения измерительного щупа вызывают наклоны зеркала, которые фиксируются визуально или фотоэлектрически с помощью оптической системы с большим увеличением. [47]
При настройке эталон ставится на плоскость измерительного стола, пучок света, падающий на центральное зеркало, перекрывается заслонкой, после чего изображение щели проектируется на экран при помощи двух зеркал, из которых одно - нижнее - передает изображение верхнего контура эталона, а другое - верхнее - отбрасывает на экран нижний контур. При соответствующем изменении углов наклона зеркал расстояние между контурами может быть уменьшено, увеличено или перекрыто. В последнем случае на границе между верхним и нижним контурами появляется темная полоса, по ширине которой можно судить о величине перекрытия. [49]
Оптическая схема и поле зрения головки интерферометра Уверского. [50] |
Для изменения цены деления шкалы интерференционные полосы устанавливаются различной ширины. Это осуществляется при помощи наклона эталонного зеркала / относительно вертикальной оси. Вращение зеркала вокруг горизонтальной оси приводит к изменению наклона полос. Головки винтов, посредством которых наклоняют эталонное зеркало, расположены на корпусе интерференционной головки. Нерабочие участки зеркальной поверхности полупрозрачной пластины экранированы. [51]
Другой тип промежуточного состояния поверхности соответствует совокупности элементарных зеркальных элементов, покрывающих всю поверхность, но различно ориентированных по отношению к макроплоскости поверхности. С увеличением усредненного значения угла наклона элементарных зеркал распределение отраженного света все больше и больше приближается к равномерному. Такая серия поверхностей соответствует в известной мере поверхности грубой керамики при разной степени плавления. Кафель и стеклоэмали по металлу выявляют отклонение от идеального глянца такого же типа, как описано выше. [52]
Установив нижнюю призму на угол поворота 90 или 270 и взглянув в окуляр, убеждаются, что поле зрения хорошо освещено. Если поле зрения освещено неравномерно, меняют наклон зеркала. Вращая коррегирующую линзу в окуляре, добиваются наиболее четкого изображения перекреста нитей, наблюдаемых в окуляре. Помещают исследуемый препарат тирозина на предметный столик микроскопа и, глядя на объектив сбоку, макровинтом 3 опускают тубус микроскопа до тех пор, пока объектив не приблизится к препарату на 3 - 4 мм. После этого смотрят в окуляр и поднимают тубус макровинтом до получения четкого изображения. Кристаллы тирозина видны в виде серых иголочек на светлом поле. Устанавливают нижнюю призму под углом 0 или 180, теперь на темном поле видны светлые кристаллы. [53]
При установке камеры необходимо раскрыть щель на 2 ммг включить лампу накаливания прибора, установить на выходе монохроматора длину волны 540 нм, поместить в месте установки образца на поворотном столике папиросную бумагу и наблюдать за расположением светового пятна на бумаге относительно отверстия эллипсоида и поворотного столика. Если пятно находится не в центре нужно изменить наклон отклоняющего зеркала. [54]
При установке камеры необходимо раскрыть щель на 2 мм, включить лампу накаливания прибора, установить на выходе монохроматора длину волны 540 нм, поместить в месте установки образца на поворотном столике папиросную бумагу и наблюдать за расположением светового пятна на бумаге относительно отверстия эллипсоида и поворотного столика. Если пятно находится не в центре, нужно изменить наклон отклоняющего зеркала. [55]
В поле зрения визирного микроскопа изображение штриховой сетки должно располагаться симметрично относительно поля зрения экрана как в горизонтальном, так и в вертикальном направлениях. Если изображение несимметрично относительно поля зрения, то исправления производят наклоном зеркала 9 ( рис. V.4) с помощью юстировочных винтов или регулировкой нижнего упора, расположенного на корпусе визирного экрана. При этом может наблюдаться срезание поля зрения, которое устраняется также наклоном зеркала 9 с помощью юстировочных винтов или разворотом осветительной насадки. [56]
Диаграмма направленности рубинового ОКГ.| Схема пространственной селекции мод.| Некритичный одиомодовый резонатор для газовых ОКГ. [57] |
Уменьшение критичности резонаторов можно получить, используя двух - и трехгранные призмы [4] ( рис. 7, а, б), совершенно некритичные к поворотам вокруг ребра или угла. Исследования показывают, что можно получить постоянство характеристик ОКГ при наклонах зеркал на несколько минут, а призм - на несколько градусов. [58]
В процессе регулировки стробоскопического устройства подгибают кронштейн 79 и добиваются, чтобы лампа 76 расположилась как можно ближе к диску 14, но не касалась его поверхности. Для этого может возникнуть необходимость изменить высоту, а также угол наклона зеркала. [59]