Cтраница 1
![]() |
Аппаратная функция растрового. [1] |
Амплитуда паразитного переменного светового потока по обе стороны выделяемой линии обладает почти постоянным значением на расстоянии, равном удвоенной ширине растра; это является следствием уменьшения постоянного паразитного потока по линейному закону. [2]
![]() |
Схема для определения защитного угла. [3] |
Постоянство освещенности во времени необходимо для защиты глаза от воздействия колебаний амплитуды светового потока, так как они вызывают частую адаптацию глаза и зрительное утомление. Причинами колебаний являются пульсации светового потока газоразрядных ламп, подвижное крепление ламп, изменения напряжения сети. Поэтому осветительная сеть должна быть независима от силовой, иметь стабильное напряжение. [4]
Результирующий световой поток Ф, имеющий переменную составляющую, амплитуда которой определяется разностью амплитуд переменных составляющих световых потоков Ф1 и Ф2 преобразуется фотоэлементом в фототок. [5]
Результирующий световой поток Ф, имеющий переменную составляющую, амплитуда которой определяется разностью амплитуд переменных составляющих световых потоков Ф1 и Ф2, преобразуется фотоэлементом в фототок. [6]
![]() |
Радиационный пирометр.| Фотоэлектрический яркостный пирометр. а - схема. б - диаграмма. [7] |
Результирующий световой поток Ф, имеющий переменную составляющую, амплитуда которой определяется разностью амплитуд переменных составляющих световых потоков Ф1 и Ф2 преобразуется фотоэлементом в фототек. [8]
Результирующий световой поток Ф, имеющий переменную составляющую, амплитуда которой определяется разностью амплитуд переменных составляющих световых потоков Фх и Ф2, преобразуется фотоэлементом в фототок. [9]
Таким образом, переменная составляющая этого фототока изменяется по синусоидальному закону, причем амплитуда его определяется разностью амплитуд световых потоков от обоих источников излучения. [10]
Таким образом, переменная составляющая этого фототока изменяется по синусоидальному закону, причем амплитуда его определяется разностью амплитуд световых потоков от обоих источников излучения. Благодаря подобной отрицательной обратной связи через световой поток лампы накаливания ток в измерителе практически не зависит от постоянства характеристик фотоэлемента во времени и от постоянства напряжения источников питания измерительной цепи. Тогда увеличится разность потоков ЕФ, что вызовет возрастание тока / г. Таким образом, измеритель Г может быть градуирован в градусах температуры. [11]
На рис. 11 - 30, а приведена упрощенная структурная схема фотоэлектрического яркостного пирометра. Результирующий световой поток Ф, имеющий переменную составляющую, амплитуда которой определяется разностью амплитуд переменных составляющих световых потоков Фз и Фь преобразуется фотоэлементом в фототек. [12]
Излучение излучателя 1 с помощью объектива фокусируется через диафрагму 2 и красный светофильтр 7 на сурьмяно-цезиевый фотоэлемент F. Под воздействием этих световых потоков в цепи фотоэлемента возникает переменная составляющая фототока, амплитуда которого определяется разностью амплитуд световых потоков от обоих источников излучения. [13]
Излучение излучателя 1 с помощью объектива фокусируется через диафрагму 2 и красный светофильтр 7 на сурьмяно-цезиевый фотоэлемент F. Под воздействием этих световых потоков в цепи фотоэлемента возникает переменная составляющая фототока, амплитуда которого определяется разностью амплитуд световых потоков от обоих источников излучения. [14]
В исходном состоянии при световом потоке Ф0 через фотодиод ( рис. 7.11) протекает тем новой ток / обр. Оптический сигнал - модулированная по амплитуде или частоте повторения последовательность импульсов светового потока ( рис. 7.11 6) вызывает фототек, пропорциональный амплитуде светового потока Фт. Выходной электрический сигнал - изменение ивык повторяет закон модуляции входного оптического сигнала. [15]