Амплитуда - дифрагированная волна
Cтраница 2
 |
Кривые R00 ( xg для ленточных диафрагм емкостного типа. [16] |
Специфика строгого решения задачи дифракции волн на емкостных диафрагмах [35] такова, что с его помощью удается получить и приближенные выражения для амплитуд дифрагированных волн в случае узких щелей. [17]
ОА ( АС) и его зеркального отображения 0В ( нАс) относительно оси т) ( фиг. Кроме того, амплитуда дифрагированной волны будет, очевидно, пропорциональна масштабу амплитудно-фазовой диаграммы. [18]
 |
Зависимость отношения амплитуд зеркально отраженного и дифрагированного сигналов от радиуса цилиндра R при совмещенной схеме контроля.| Дифракционное рассеяние. [19] |
Вертикальная трещина имитирована разрезом. Показано сравнительное распределение амплитуд дифрагированных волн по разным направлениям при контроле прямым ( а) и наклонным ( б) преобразователями. Фактический выигрыш будет не так велик, учитывая потери энергии в призме преобразователя и увеличение пути УЗ. [20]
Это выражение определяет амплитудное пропускание апертуры. Подставив его в уравнение (2.119), получим выражение, описывающее амплитуду дифрагированной волны. [21]
Дополнительный фазовый сдвиг вычитается. Амплитуду дифрагированной волны можно найти, если взять дугу, пропорциональную ti, в отрицательном направлении и дугу, пропорциональную tz, в положительном направлении вдоль кривой и соединить. [22]
В случае полубезграничной трещины с острым краем амплитуда дифрагированных волн слабо зависит от угла падения и частоты ультразвука. Некоторое повышение амплитуды дифрагированной продольной волны с увеличением угла падения на край объясняется приближением угла падения к третьему критическому углу ( ос 56 5); в этом случае к дифрагированным волнам, образованным по первому типу, добавляются волны дифракции, полученные по третьему типу. Отметим, что амплитуда дифрагированных волн не зависит от частоты. [23]
Когельник ( США) разработал теорию дифракции света на трехмерных голограммах с простой голограммной структурой, образованной двумя плоскими волнами, и не только качественно оценил, но и выразил количественно такие важные характеристики голограмм, как зависимость дифракционной эффективности от глубины модуляции коэффициентов преломления и поглощения света, толщины слоя голограммы, направления опорных и объектных пучков при получении голограммы. Он также вывел математические выражения для определения таких важных свойств голограмм, как угловая и спектральная селективность. Когельника выведены для произвольных значений амплитуд дифрагированных волн, в том числе больших, чем амплитуда прошедшей волны нулевого порядка. Авторами был применен метод линеаризации процессов образования сложных телеграммных структур и дифракции света на таких структурах, позволяющий распространить выражения, полученные для простейших структур, на случаи сложных структур реальных изобразительных голограмм. [24]
При переходе с одной стороны дислокации на другую х меняет знак. Поэтому спирали, соответствующие разным сторонам дислокации, будут разного типа - одна скрученная, а другая раскрученная. Очевидно, что вектор, характеризующий амплитуду дифрагированной волны, будет больше в случае раскрученной спирали. [25]
Изображающие свойства двух элементов будут одинаковыми, если один из них записан с заданными объектной и опорной волнами, а второй, когда одна из этих волн отражается в материале подложки. Это объясняется тем, что поверхностная дифракционная решетка остается неизменной, когда нормальная составляющая вектора полос меняет знак. Разумеется, амплитуды дифрагированных волн различных порядков будут сильно отличаться, поэтому практически оба элемента трудно сравнивать. Дуализм бывает полезно использовать на этапе конструирования ГОЭ. [26]
Страницы: 1 2