Наличие - аберрация - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4
Русские называют доpогой то место, где собиpаются пpоехать. Законы Мерфи (еще...)

Наличие - аберрация

Cтраница 4


Указанная зависимость заметно нарушается лишь тогда, когда ограничивающая диафрагма установлена в непосредственной близости к плоскости скрещения. Установка диафрагмы вблизи плоскости скрещения с радиусом отверстия, равным теоретически рассчитанному радиусу скрещения, должна была бы привести к получению пятна, имеющего более резкую границу из-за срезания значительной части периферийных электронов. Однако влияние сил кулоновского расталкивания вблизи экрана и наличие аберраций второй линзы приводят к увеличению радиуса пятна и размытию его границы.  [46]

47 Рентгенограмма [ IMAGE ] ЭОП с после. [47]

У этого преобразователя вблизи экрана на боковых стенках колбы имеется кольцо проводящего покрытия с отдельным выводом, являющееся электродом последующего ускорения электронов. Следует отметить, что образующаяся вблизи экрана иммерсионная линза из-за наличия аберраций несколько снижает разрешающую способность, особенно у краев экрана.  [48]

49 Оптические передаточные функции, связанные с некогерентным освещением. [49]

Этот результат получается как следствие выражения (4.15.7), теорем Парсеваля и свойств свертки. Знаменатель здесь равен площади апертуры. Для систем без аберраций интеграл в числителе связан с площадью перекрытия двух функций зрачка Р, сдвинутых относительно друг друга на а и 0 вдоль осей х и у соответственно. Можно показать, что наличие аберраций уменьшает ОПФ, хотя при / 3 0 ОПФ всегда равна единице. Следует заметить, что ОПФ можно определить также для фотоэмульсий, телевизионных камер и других электрооптических приборов. Это особенно важно при конструировании сложных электрооптических систем формирования изображения. Если любую из компонент оптической системы можно описать соответствующей ей ОПФ, то создание сложной электрооптической системы возможно по принципу построения каскада электронных усилителей.  [50]

51 Модель диска, использованная для расчета перекрестных искажений. Каждая дорожка содержит различные пространственные частоты ( от v, до vs, и данная последовательность дорожек повторяется в радиальном направлении. На мощность сигнала с частотой YI практически не влияют дорожки с той же самой частотой, которые находятся на расстоянии пяти периодов дорожек. [51]

Эффект смешения двух изображений ( или видеокадров) отчетливо заметен глазом в том случае, когда интенсивность одного изображения превышает 1 % интенсивности другого. Поэтому в демодулированном аналоговом видеосигнале уровень перекрестных искажений не должен превышать - 40 дБ по отношению к максимальному значению уровня белого основного сигнала. Приемлемый уровень перекрестных искажений в сигнале, считываемом с видеодиска, составляет - 34 дБ по отношению к основной несущей ЧМ-сигнала. Дифракционно-ограниченное сканирующее пятно может обеспечить такой уровень перекрестных искажений ( при стандартном расстоянии между дорожками 1 7 мкм), однако наличие аберраций сразу же увеличивает перекрестные искажения. Случай пятна с комой, лепесток которой направлен к соседним дорожкам, наихудший. Кома может быть обусловлена наклоном оптического диска по отношению к оптической оси объектива. Перекрестные искажения видны на телевизионном экране в виде муаровых полос, которые непрерывно двигаются и меняют свою ориентацию.  [52]

Но луч света, попадая в оптический прибор, проходит через границы раздела сред с разными оптическими плоскостями. Араго заинтересовало влияние преломляющих поверхностей на аберрацию света. Пусть ab - направление луча, при котором при наличии аберрации звезда видна непосредственно; cd - направление луча, при котором звезда видна сквозь призму.  [53]

Минимально обнаруживаемый дефект достигает порядка 0 1 мм в диаметре. Применение металлического вращающегося зеркала увеличивает скорость сканирования в 4 раза по сравнению со стеклянным зеркалом. Возможно контролирование поверхности материала, двигающегося со скоростью свыше 15 м / с. Сканирующие лазерные системы бегущего луча могут также использоваться для получения изображения объектов контроля. Схема лазерного сканирующего инфракрасного микроскопа для контроля внутренних дефектов полупроводниковых материалов с механическим сканированием объекта контроля и неподвижным лучом лазера отличается низким быстродействием, но имеет высокую разрешающую способность. Схема с системой сканирующих зеркал отличается большим быстродействием ( до 50 кад / с при 200 - 400 строках разложения телевизионного изображения), однако наличие полевых аберраций оптической системы приводит в этом случае к снижению пространственного разрешения.  [54]



Страницы:      1    2    3    4