Наличие - паразитный параметр
Cтраница 1
Наличие паразитных параметров приводит к появлению между элементами и узлами импульсных устройств паразитных связей и наводок. Они искажают сигналы, вызывают помехи и в итоге могут привести к нарушению работы аппаратуры. [1]
 |
Принципиальная сжГ ляемые реактивными параметрами ма генератора радиочастот. ТД и внешних элементов [ Л. 33 ]. [2] |
Рассматриваемые колебания возникают из-за наличия паразитных параметров и у ТД и у остальных элементов схемы ( индуктив-ностей выводов, монтажных емкостей и пр. [3]
Пренебрегая неидеальностью суммирования и наличием паразитных параметров, рассмотрим зависимость потерь энергии шумоподобного сигнала от отклонений величины задержки в отводах линии задержки. [4]
При коммутации транзисторов, вследствие наличия паразитных параметров реактивных элементов ИВЭП, соединительных проводов, емкости между элементами, образующих колебательные контуры, возникают высокочастотные колебания. [5]
Электроннолучевая трубка из-за конечного времени пролета электронов и наличия паразитных параметров выводов и пластин искажает форму импульса. [6]
К особенностям интегральных компонентов, оказывающим влияние на их моделирование, относится прежде всего наличие разнообразных транзисторных структур, наличие существенных паразитных параметров, повышение роли математических соотношений между электрическими и структурными параметрами в связи с трудностями экспериментального определения электрических параметров и тесной взаимосвязью этапов проектирования схем и компонентов. [7]
Следует, однако, указать на определенную ограниченность метода избыточных переменных при оценке точности решения задач на АВМ. При использовании метода невозможно учесть влияние на результирующую погрешность ряда первичных ошибок АВМ ( см. § 17 - 1), например методических ошибок и погрешностей 13 - 15, связанных с наличием малых паразитных параметров и ограниченностью полосы пропускания решающих узлов. К таким погрешностям в основном относятся указанные выше ошибки 13 - 15 и частично ошибка 9, если имеет место искажение линейной характеристики потенциометра подключенной нагрузкой. [8]
Для измерения импульсов длительностью в несколько наносекунд с фронтом в ( l - s - 2) нсек обычные осциллографы непригодны. Усилители вертикального отклонения имеют недостаточную полосу пропускания для неискаженной передачи формы импульса. Электроннолучевая трубка из-за конечного времени пролета электронов и наличия паразитных параметров выводов и пластин исказит форму импульса. [9]
Для ответа на вопрос об устойчивости состояний равновесия необходимо, как известно, рассмотреть поведение системы вблизи состояний равновесия. Под воздействием этого толчка в системе начнется динамический процесс, для описания которого схема, изображенная на рис. 7.4, а, уже оказывается непригодной. Действительно, пока устройство находилось в состоянии равновесия, токи в паразитных емкостях и напряжения на паразитных индуктивностях были равными нулю и, следовательно, наличие паразитных параметров в схеме можно было не учитывать. Во время динамического процесса факторы, определяющие инерционность системы ( паразитные емкости и индуктивность, инерционность транзисторов), уже должны быть приняты во внимание. [10]
К третьей группе высокоточной аппаратуры относятся устройства, изготовленные из высокоточных деталей, работающих в условиях микроклимата. Аппаратуру этой группы обслуживает высококвалифицированный персонал. Она калибруется и подстраивается перед каждым использованием. В указанной аппаратуре применяют схемы автоматической подстройки и поддержания стабильности выходных параметров, устройства встроенного контроля. Если подстройка и регулировка параметров производится непрерывно в процессе работы аппаратуры, то потери энергии и достоверности определяются только неидеальностью выполнения функций и наличием паразитных параметров. Нестабильность параметров элементов схем в этом случае не играет существенной роли. [11]
Страницы: 1