Наличие - дефект - упаковка
Cтраница 1
Наличие дефектов упаковки у монокристаллов ZnS, выращенных из расплава, должно оказывать существенное влияние на анизотропию механических свойств по сравнению с кубическими бездефектными кристаллами. Образцы ZnS с довольно высокой концентрацией дефектов упаковки ( - 10 %) проявляют те же свойства, что и гексагональные кристаллы CdS и CdSe: 1) на плоскости ( 111), перпендикулярной С3 и С6, розетки укола имеют такую же форму, как и для всех других кристаллов со структурой W ( см. рис. 4, г); 2) на плоскости скола ( 110) картина дислокационной розетки не отличается от соответствующей картины на CdS ( см. рис. 4, з); 3) на плоскости ( 111), перпендикулярной осям Cg сфалерита и Св вюрцита, отпечатки индектора симметричны, анизотропия микротвердости II рода на этой плоскости отсутствует, величина Нр, составляет 268 5 кГ / мм2 для серии монокристаллов, принадлежащих разным плавкам; 4) на плоскостях ( 111), перпендикулярных только осям С3, отпечатки асимметричны, как для кристаллов ZnS со структурой W; 5) дислокационные розетки на этих гранях похожи не на обычные, получаемые на гранях ( 111) кубических бездефектных кристаллов, а на розетки, получаемые на плоскостях скола ( 110); 6) величина микротвердости плоскостей ( 111), перпендикулярных только осям С3, составляет 164 4 кГ / мм2, что совпадает с Нц боковых граней монокристаллов ZnS со структурой W. Все перечисленные особенности поведения кубических монокристаллов ZnS, содержащих до 10 % дефектов упаковки, свидетельствуют о том, что при такой их концентрации механические свойства анизотропны, как у гексагональных кристаллов. [1]
При наличии дефектов упаковки образуется избыток энергии, который относят к единице площади и называют энергией дефекта упаковки. [3]
Следует иметь в виду, что двойниковые границы также могут давать системы контуров, во многих отношениях подобные картине, связанной с наличием дефекта упаковки. [4]
Для точного определения абсолютной концентрации точечных дефектов по данным электрических измерений нужно знать, насколько увеличивается сопротивление при изменении содержания дефектов на 1 ат. Коттерил [387] непосредственно измерял сопротивление, обусловленное наличием дефектов упаковки в золоте. [5]
В работах этих авторов были получены выражения для сдвига контуров в картине муара при наличии частичной дислокации, расположенной параллельно поверхности одной из фольг. Рассмотрен также вопрос об изменениях контраста при наличии дефекта упаковки. Зависимость положения контуров на картине муара и их контраста от различных параметров, таких, как толщина фольги, положение дефекта упаковки и интерференционная ошибка, оказалась довольно сложной. Но подробный анализ выходит за рамки нашего обзора. [6]
Происходит путем сдвига ( см. 1.11), обычно связано с наличием дефектов упаковки расщепленных дислокаций. Дефекты упаковки являются подготовленным местом для образования зародышей новой фазы. [7]
Происходит путем сдвига ( см. 1.11), обычно связано с наличием дефектов упаковки расщепленных дислокаций. Дефекты упаковки являются подготовленным, местом для образования зародышей новой фазы. [8]
Происходит путем сдвига ( см. I.II), обычно связано с наличием дефектов упаковки расщепленных дислокаций. Дефекты упаковки являются подготовленным местом для образования зародышей новой фазы. [9]
В большинстве случаев дефекты упаковки образуют колонии. Иногда в результате слияния дефектов происходит их взаимоуничтожение, при этом часто наблюдаются границы пересечения, свидетельствующие о наличии дефектов упаковки как вычитания, так и внедрения; Нц, участков, ограниченных следами дефектов упаковки, совпадает с величиной Нц а-модификации. [11]
Наоборот, по данным измерения экстинкционных расстояний в принципе можно определить кристаллическую структуру образца при условии, что проблема фаз может быть решена. Точно так же, если известно экстинкционное расстояние, для определения толщины фольги можно пользоваться контурами на изображении, обусловленными наличием дефектов упаковки, которые проходят по всей толщине фольги. [12]
 |
Фрагмент характеристических Ran ъс-гяъпъъъ ц 1Q1 цепочек тетраэдров, встречающихся Ьаррер установил ЦО, 1УЬ в структурах морденита и дикиардита. что полный диаметр, равный. [13] |
А, не согласуется со свойствами молекулярных сит, но Майер [179] показал, что свободный диаметр может быть уменьшен примерно до 4 А за счет дефектов упаковки. В этом случае морденит будет иметь одну систему каналов с диаметром 2 8 А, параллельных оси Ъ, и другую ( при наличии дефектов упаковки) - со случайными расширениями до - 4 А. [14]
Положим а 2rai - R 2яа, где R - вектор, характеризующий смещение элементарной ячейки из ее положения в совершенном кристалле, обусловленное наличием дефекта упаковки. К решению задачи можно подходить двояко. [15]
Страницы: 1 2