Наложение - максимум
Cтраница 2
Для выбора мощности электростанций решающее значение имеет максимум электрической нагрузки, определяемый наложением максимумов промышленной и осветительной нагрузок. Для средней полосы нашей схраны ( г. Москва и др.) такое наложение максимумов происходит около 16 - 17 ч дня в декабре - январе, когда работает еще дневная смена на промышленных предприятиях и включается освещение. [16]
 |
Участок непрерывного спектра ( а н образующиеся в приборе с решеткой непрерывные спектры m - ro п Си - - 11-го порядков 16. [17] |
Рассмотрим ограниченный участок непрерывного спектра ДА. Каждая монохроматическая составляющая этого интервала изобразится в фокальной плоскости камерного объектива в виде своего главного максимума, а при наложении максимумов для каждой монохроматической составляющей в каждом порядке образуется участок непрерывного спектра ( рис. Я. [18]
 |
Суточные гра - живаются и суточ-фики электрической на - ный график про. [19] |
Максимальная величина электрической нагрузки определяется главным образом наложением двух основных видов электрической нагрузки: промышленной и осветительной. В зимнее время максимум осветительной нагрузки наступает около 16 ч, когда не закончилась еще работа односменных промышленных предприятий и происходит наложение максимума осветительной и промышленной нагрузок. [20]
 |
Спектры поглощения реактива ( /, комплекса ( 2 абсолютная разница между ними ( 3 и относительная разница ( 4. Шкала для кривой 4 указана на оси ординат справа. [21] |
Как следует из рис. 40, величина Дотн возрастает в одном направлении. При этом немного уменьшается чувствительность ( приблизительно на 15 %), но зато сильно возрастает надежность определения. Общего способа расчета не может быть, так как наложение максимумов и формы кривых спектров поглощения в значительной степени индивидуальны. [22]
Кроме того, все коэффициенты ряда положительны. Это означает, что все гармоники разложения проходят через начало координат ( через узлы решетки) своими гребнями. Поэтому в начале координат всегда располагается наиболее мощный максимум. Как уже было выяснено, он соответствует наложению N максимумов ( N - число атомов в структуре на ячейку), соответствующих нулевым расстояниям каждого атома от самого себя. [23]
Для нестационарных процессов описанный метод неприменим. Однако вследствие дифракции на каждой щели решетка должна иметь большой шаг во избежание наложения максимумов от соседних щелей. Такой метод дает ограниченную информацию, особенно в случае тонкого пограничного слоя. [24]
Приведенные примеры раскрывают основные особенности метода. Процесс наложения и минимализации может проводиться только на основе известного межатомного вектора, связывающего одинаковые ( или почти одинаковые) атомы. Он, следовательно, является лишь вторым этапом анализа межатомной функции, проводимым после получения сведений о положении некоторых ( обычно самых тяжелых) атомов на основе свойств симметрии. Метод наложения обогащает эти сведения, упрощает и автоматизирует извлечение из межатомной функции новых, дополнительных данных. Однако в силу малой контрастности минимализованных распределений, а главное-вследствие наложений максимумов паттерсоновской функции друг на друга-этот метод почти никогда не дает полной ( окончательной) расшифровки структуры. [25]
Не менее важен и другой путь облегчения работы, связанный с уменьшением числа членов ряда Фурье. Важен он не только сточки зрения упрощения расчетной части работы, но и с точки зрения сокращения объема эксперимента. Ведь в ряд Фурье, в том его виде, который был предложен выше, входят в виде коэффициентов структурные амплитуды всех отражений, которые только способен давать кристалл. При исследовании сложных кристаллов приходится прибегать к рентгенгониометрическому методу. Над каждым из них нужно провести довольно большую предварительную работу: найти индексы отражений, оценить интенсивности всех пятен, найти и учесть для всех отражений поляризационный фактор и фактор интег-ральности. Структурные факторы отражений разных рентгенограмм следует привести к одной шкале ( см. стр. Наконец, при расчете электронной плотности наибольшее количество труда и времени требует нахождение фаз всех отражений или знаков их структурных амплитуд, причем эта часть подготовительной работы может в дальнейшем оказаться бесполезной, если пробная структура была выбрана неправильно. Таким образом, огромная затрата труда может вовсе не окупиться. Ясно отсюда, насколько был бы важен такой вариант применения рядов Фурье, в котором ряд содержал бы значительно меньшее число членов и требовал соответственно меньшего экспериментального материала и затраты времени на подготовительные расчеты. Таким вариантом и является метод проекций. Правда, вместо распределения р ( хуг) в пространстве исследователь получает лишь проекцию электронной плотности на определенную плоскость или на определенную прямую. Проекция дает значительно меньший материал для суждения о структуре, чем трехмерное распределение: во-первых, проекция на плоскость позволяет фиксировать лишь две из трех координат каждого максимума, а проекция на прямую-лишь одну из них; во-вторых, неизбежные наложения максимумов друг на друга при проектировании значительно затрудняют анализ получаемых картин. [26]
Страницы: 1 2