Cтраница 2
Измерения Ну наноматериалов при 300 К после отжига при некоторой температуре Т используются для определения температур релаксации. [16]
Период решетки наноматериалов часто отличается от такового для обычных поли - и монокристаллических материалов. В табл. 2.5 приведены результаты определения изменений периодов решетки нанообъектов, полученных разными методами. [17]
![]() |
Схемы структуры наноком-позитов, содержащих фазы различного заряда. [18] |
Подавляющее большинство наноматериалов, за немногим исключением ( например, супрамолекулярные структуры), по своей природе неравновесны. [19]
Для получения полупроводниковых наноматериалов на основе MS осуществлен синтез анион-замещенного гидроталькита с внедренными в межслоевое пространство анионными комплексами Pb, Zn и др., с последующим сульфидированием в токе сероводорода. Также проводили получение таких материалов без использования постороннего сульфидируещего агента, который может приводить к агрегации отдельных наночастиц сульфидов металлов в межслоевом пространстве СДГ. [20]
Наряду с металлическими объемными наноматериалами получен: также и неметаллические. [21]
В этих наноматериалах непосредственно после их получения границы раздела находятся в неравновесном напряженном состоянии с избыточной энергией. [22]
Теоретически механизм деформации наноматериалов рассматривался многими исследователями. [23]
Начальная стадия деформации наноматериалов связана с проскальзыванием на границах зерен, которое сопровождается генерацией дислокаций от межзеренных границ внутрь зерен. [24]
Как меняется теплоемкость наноматериалов в зависимости от размера кристаллитов. [25]
К уникальным особенностям наноматериалов относятся отличия их температур плавления и размеров кристаллических решеток от соответствующих величин в материалах с обычной структурой. В связи с этим возникает вопрос о справедливости использования термина постоянные решетки, применительно к размерам решетки. [26]
Общими для всех наноматериалов, полученных ИПД, являются высокие внутренние напряжения и искажения кристаллической решетки. [27]
Анализ дислокационной структуры наноматериалов имеет особое значение в связи с тем, что источники размножения дислокаций не могут существовать в материалах с размером зерен менее 10 нм. Имеющиеся в литературе экспериментальные данные по данному вопросу являются довольно ограниченными и противоречивыми. [28]
![]() |
Трехмерная модель ячейки нанокристалла, включающая восемь одинаковых по размеру ромбоэдрических зерен типов 1 и 2. все грани зерен одного и того же типа кристаллографически эквивалентны. [29] |
Аномальная избыточная теплоемкость наноматериала обусловлена, в основном, низкочастотными колебательными модами, связанными с границами зерен. Вклад высокочастотных колебаний в аномальное увеличение теплоемкости нанокристалла незначителен. [30]