Cтраница 2
Величина допустимых размеров кристаллов пс максимальному направлению измерения не должна превышать размер частиц, вызывающих изменение вязкости расплава при температуре максимума вспенивания. [17]
Перемещение измерительных плоскостей вдоль профиля изменяет направление измерения, обеспечивая возможность исследования погрешностей шага в различных местах одного и того же профиля. [18]
Перемещение измерительных плоскостей вдоль профиля изменяет направление измерения, давая возможность исследования погрешностей шага в различных местах одного и того же профиля. [19]
Скалярные свойства кристаллов не зависят от направления измерения и полностью определяются одним числом. [20]
Если в технических требованиях не задано направление измерения шероховатости, то измерения производят в том направлении, где имеется наиболее грубая шероховатость. [21]
В каких случаях на чертежах указывают направление измерения шероховатости. [22]
![]() |
Сопротивления при комнатной температуре, измеренные для различных графитных структур. [23] |
Или сопротивление основного плана, поскольку направление измерений вдоль углеродной гексагональной сетки не влияет на про водимость. [24]
Если главное сечение клиновидной пластинки параллельно направлению измерения, то при повороте пластинки будет возникать дополнительное отклонение визирного луча всегда в сторону основания клина. [25]
Размеры формующего стержня в том же направлении измерения называют охватываемыми, а размеры отверстия, отформованного этим стержнем - охватывающими. [26]
Показатель преломления полимера обычно не зависит от направления измерения; в таком случае говорят, что вещество оптически изотропно. [27]
Не обеспечено постоянство положения измерительной базы в направлении измерения. [28]
![]() |
Изменение модуля § упругости углеграфитовых 5 20 материалов в зависимости от температуры, изготовлен-ных из. [29] |
Модуль упругости зависит от условий поессования структуры и направления измерения. РУГ СТИ ДЛЯ гРаФи Р ванных электродов от оа о & К Ц6НТР1 Уменьшается. [30]