Cтраница 2
Мы уже приводили соотношения, определяющие интенсивность дифрагированных пучков света на голограмме с тонким слоем. Теперь рассмотрим дифракцию света на такого рода голограмме и определим направление дифрагированных лучей света. [16]
Большое практическое значение имеет дифракция, наблюдаемая при прохождении света через одномерную дифракционную решетку - систему параллельных щелей равной ширины, лежащих в одной плоскости и разделенных равными по ширине непрозрачными промежутками. Рассматривая дифракцию Фраунгофера на щели, мы видели, что распределение интенсивности на экране определяется направлением дифрагированных лучей. Это означает, что перемещение щели параллельно самой себе влево или вправо не изменит дифракционной картины. Следовательно, если перейти от одной щели ко многим ( к дифракционной решетке), то дифракционные картины, создаваемые каждой щелью в отдельности, будут одинаковыми. [17]
При рассмотрении дифракции плоской световой волны от щели мы видели, что распределение интенсивности на экране определяется направлением дифрагированных лучей. Это означает, что перемещение щели паралельно самой себе влево и вправо по экрану 3t ( см. рис. 6.17) не приводит к какому-либо изменению дифракционной картины. Следовательно, если на экране Зг сделать еще одну щель, параллельную первой, такой же ширины Ь, то картины, создаваемые на экране Э2 каждой щелью в отдельности, будут совершенно одинаковыми. [18]
Направление и интенсивность лучей, возникающих при дифракции, регистрируют счетчиком рентгеновских квантов или фотографическим способом. При фотографическом способе регистрации на специальной рентгеновской пленке в месте попадания па нее дифрагированного луча возникает ( на негативе) почернение - рефлекс Положение рефлекса на рентгенограмме характеризует направление дифрагированного луча; степень почернения определяется интенсивностью луча. Для расчета направлений дифрагированных лучей применяют уравнение Вульфа - Брэгга. [19]
Направление и интенсивность лучей, возникающих при дифракции, регистрируют счетчиком рентгеновских квантов или фотографическим способом. При фотографическом способе регистрации на специальной рентгеновской пленке в месте попадания па нее дифрагированного луча возникает ( на негативе) почернение - рефлекс Положение рефлекса па рентгенограмме характеризует направление дифрагированного луча; степень почернения определяется интенсивностью луча. Для расчета направлений дифрагированных лучей применяют уравнение Вульфа - Брэгга. [20]
Первичное или дифракционное изображение объекта формируется в главной фокальной плоскости объектива. Поскольку в электронном микроскопе используют электронные лучи с длиной волны, меньшей, чем межплоскостные расстояния кристаллической решетки, в главной фокальной плоскости объектива должна возникать дифракционная картина, соответствующая кристаллической структуре объекта. На рис. 146 схематически показаны направления дифрагированных лучей для двух микроскопических кристаллов and объекта. [21]
Направление и интенсивность лучей, возникающих при дифракции, регистрируют счетчиком рентгеновских квантов или фотографическим способом. При фотографическом способе регистрации на специальной рентгеновской пленке в месте попадания - на нее дифрагированного луча возникает ( на негативе) почернение - рефлекс. Положение рефлекса на рентгенограмме характеризует направление дифрагированного луча; степень почернения рефлекса определяется интенсивностью луча. Для расчета направлений дифрагированных лучей применяют уравнение Вульфа-Брэгга. [22]