Cтраница 2
![]() |
Схема установки ОНд для исиьнанип при i. c изотермическом нагружении. [16] |
Возникающие в образце продольные и поперечные усилия регистрируются элементами 5 и, на которые наклеены тензорезисторы сопротивления. Точность измерения напряжений в образце составляет 1 % номинальной нагрузки. Величина деформации в продольном и поперечном направлениях образца измеряется тензоскобами 14, 15 с точностью до 2 5 % номинальной деформации. [17]
![]() |
Кристалл с вырезанными образцами. /, 2 - образцы. [18] |
Оказалось, что образец / незначительно удлинился, а образец 2 разрушился. Следовательно, весь кристалл при его растяжении в направлении образца 2 имеет меньшую прочность. [19]
![]() |
Машина для испытания резины на истирание с пеое-менным углом установки образца. [20] |
Истирающий трек выполнен в виде наждачного круга. Он легко вращается в подшипниках, которые закреплены в шарнирном держателе. При такой конструкции истирающий круг имеет свободу перемещения в направлении образца и прижимается к нему с силой, определяемой грузом, накладываемым на тарелку. [21]
Через проводник пропускается ток. Устройство для испытания сконструировано так, что как только полоска под действием механических напряжений треснет, электрическая схема разрывается и счет циклов прекращается. Число циклов, выдержанных образцом до отказа схемы, определяется прежде всего свойствами фольги при растяжении. Поэтому из двух вырезанных в одном направлении образцов один закрепляется медным проводником снаружи петли, второй - внутри. [22]
![]() |
Схематическое изображение интерферометра Майкельсона. [23] |
Различные модели интерферометров Майкельсона изготовлены фирмой Qaertner Scientific Corporation. Кроме того, различные оптические предприятия изготовляют приспособления, которые позволяют использовать принцип интерферометра Майкельсона для измерения толщины пленок. Интерференционный микроскоп фирмы Zeiss для расщепления луча использует две призмы в виде куба. Изменяя ориентацию одной или обоих плоских стеклянных пластин, одну в опорном направлении и другую в направлении образца, можно изменять интервалы и направление полос интерференции. [24]
Из кристалла правильной формы ( рис. 3) вырезаны два образца, одинаковые по форме и размерам, но расположенные по-разному. Образцы испытаны путем растяжения с одинаковыми усилиями. Оказалось, что образец / незначительно удлинился, а образец 2 разрушился. Следовательно, весь кристалл при его растяжении в направлении образца 2 имеет меньшую прочность. [25]