Cтраница 3
![]() |
Сведение двухмерного и трехмерного распределения к одномерному. [31] |
Наоборот, второй способ выгодно применять по отношению к высоким ячейкам. Если предварительные данные о расположении атомов уже имеются ( например, из проекции на плоскость, перпендикулярную направлениям линейных сечений), то можно не просчитывать всех линейных сечении, а ограничиться только теми районами проекции, в которых располагаются максимумы. Метод пронизывания значительно сокращает объем вычислительной работы. [32]
В трехмерном случае знак разностной функции К ( xyz) вдоль средней по длине оси эллипсоида может быть как положительным, так и отрицательным. Если эллипсоид является вытянутым - R отрицательно во всех направлениях сечения, перпендикулярного длинной оси эллипсоида; если эллипсоид сплюснут - R положительно во всех направлениях сечения, перпендикулярного его короткой оси. Если значения R ( хуг) в таком сечении обладают круговой симметрией - эллипсоид является одноосным; если симметрия эллиптическая - эллипсоид двуосный. Распределение функции R ( xyz) в пространстве позволяет, следовательно, полностью определить не только ориентацию эллипсоида тепловых колебаний, но и характер самих колебаний. [33]
Кажется, что 4Д структура грубее, но это не так. Более подходящий способ оценки - определение тонкости структуры по числу срезов пучков волокон на единицу площади поперечного сечения структуры. Эта величина называется индексом размера зерен. Для ЗД структуры с пучками волокон диаметром 1 мм индекс колеблется от 25 до 43 3 пучков волокон на 1 сма в зависимости от направления сечения относительно осей пучков. В 4Д структуре этот индекс изменяется от 35 35 до 50 пучков волокон на 1 сма. [34]