Cтраница 1
Напряжение поля, при котором происходит пробой, является мерой электрической прочности материала. [1]
![]() |
Блок-схема двухлучевого интерферометра для измерения электрооптических коэффициентов. [2] |
Напряжение поля в обоих плечах интерферометра выбирают таким образом, чтобы разность фаз была равна нулю. [3]
Напряжение поля, при котором происходит пробой, является мерой электрической прочности материала. [4]
Напряжение поля точечного заряда Q в точке А равно ЕА, а в точке В - Ев. [5]
Определить напряжение поля между обкладками, емкость конденсатора, заряд его пластин и запас электрической прочности изоляции. [6]
Ех - напряжение поля и е - диэлектрическая постоянная пылинки. [7]
Если же напряжение поля превысит определенную величину, то происходит как бы разрыв, или пробой диэлектрика, и ток начинает проходить через материал. [8]
Вблизи провода напряжение поля столь велико, что ионы и электроны способны ионизировать нейтральные молекулы, но по мере удаления от провода напряжение поля, а следовательно, и скорость движения ионов уменьшается настолько, что ударная ионизация становится невозможной. [9]
![]() |
Форма электродов, плоскостей в данном случае непригодны, так. [10] |
Вблизи провода напряжение поля столь велико, что ионы и электроны способны ионизировать нейтральные молекулы, но по мере удаления от провода напряжение поля, а следовательно, и скорость движения ионов уменьшаются настолько, что ударная ионизация становится невозможной. [11]
Если же напряжение поля превысит определенную величину, то происходит как бы разрыв, или пробой диэлектрика, и ток начинает проходить через м атериал. [12]
В - напряжение разгоняющего поля, В0 16 Тл - индукция магнитного поля, 01 6 - Ю 18 Кл - заряд иона. [13]
В - напряжение разгоняющего поля, B-Q, 16 Тл - индукция магнитного поля, д1 6 10 - 19 Кл - заряд иона. [14]
![]() |
Схема масс-спектрометра. [15] |