Cтраница 3
Различают напряжения I рода - макронапряжения, охватывающие области, соизмеримые с размерами детали; напряжения II рода - микронапряжения, распространяющиеся на отдельные зерна или группу зерен металла, и напряжения III рода - субмикроскопические, связанные с искажениями атомной решетки кристалла. [31]
Схема упругой и п. шсшческой деформации Mcia. a иод действием напряжения сдвига. [32] |
Только напряжения I рода имеют знак. [33]
Только напряжения I рода имеют знак. Принято растягивающие напряжения обозначать знаком плюс и сжимающие - знаком минус. Напряжения III и большей частью II рода определенного знака не имеют. [34]
Вероятно, напряжения II рода облегчают это образование, а измельчение блоков мозаики затрудняет его. [35]
Скорость изменения. [36] |
Полигонизация сопровождается уменьшением напряжений II рода и укрупнением областей когерентного рассеяния ( блоков мозаики); как результат этого наблюдается сужение линий на рентгенограмме поликристалла. На рентгенограммах монокристаллов и крупнокристаллических поликристаллических образцов отдельные крупные, размытые рефлексы ( астеризмы в случае монокристаллов) при полигонизации разбиваются на несколько более мелких и четких рефлексов, расположенных на месте исходного размытого рефлекса. [37]
Ошибка при определении напряжений I рода этим методом может колебаться в зависимости от точности метода в пределах: 1: - 2 5 кг / мм2 для стали и 0 3 - 4 - - i - 0 7 кг / мм 2 для алюминия. [38]
Искажения кристаллической решетки ( напряжения III рода) уменьшают интенсивность интерференционных линий на рентгенограмме. [39]
Образование нормальных сг и касательных т напряжений при приложении силы Р к плошали Ли и эпюры растягивающих напряжений при различных концентраторах напряжений. [40] |
Существуют различные методы измерения напряжений I рода. [41]
Диаграмма деформирования при сжатии углеродистой стали после предварительного упрочнения пластической деформацией растяжения. [42] |
Автор ошибочно ориентированные микронапряжения ( напряжения II рода) называет напряжениями III рода. [43]
При съемке с эталоном определение напряжений I рода можно проводить, измеряя расстояние между линиями для образца и эталона. [44]
Процессы, приводящие к возникновению напряжений II рода, часто вызывают одновременно измельчение блоков мозаичной структуры. [45]