Cтраница 2
Существующие диагностические признаки определения неисправности типа расцентровка валов, отраженные в работах А.С. Гольдина и В.А. Русова, носят обобщенный характер и, по словам авторов, требуют специальных исследований для каждого типа агрегатов. [16]
Хотя конечно, в случае неисправностей типа слишком слабый испаритель, обусловленной недостаточным расходом воздуха через испаритель, перепад температур воздуха Л0 на входе и на выходе из испарителя всегда будет повышенным. [17]
Не смешивайте эту неисправность с неисправностью типа слишком большой ТРВ, которая будет давать нормальную холодопроизводительность при одновременном возрастании давления конденсации. [18]
![]() |
Таким образом, вновь все происходит так, как если бы конденсатор стал переразмеренным. [19] |
Еще раз напоминаем: не смешивайте неисправности типа слишком слабый компрессор и слишком большой ТРВ. [20]
Перед тем, как приступить к изучению неисправности типа Слишком слабый компрессор, в настоящем разделе предлагается анализ причин, могущих вызвать разрушение клапанов холодильного компрессора, а также последствия и способы обнаружения такой поломки. [21]
Однако всякий раз, когда появляются признаки неисправности типа Слишком слабый компрессор, и ремонтник начинает думать о том, что вероятной причиной может быть разрушение клапанов, для многоцилиндровых компрессоров с демонтируемыми головками блоков существует способ проверить точность диагноза и определить, какую из головок следует демонтировать и проверить в первую очередь. [22]
Таким образом, в базисе х / у при неисправностях типа 0 на выходах элементов почти все булевы функции можно реализовать схемами, асимптотически наилучшими по надежности [1], причем сложность построенных схем имеет тот же порядок роста, что и сложность схем, построенных только из надежных элементов. [23]
Таким образом, в базисе &, - при неисправностях типа 0 на выходах элементов почти все булевы функции можно реализовать схемами, асимптотически наилучшими по надежности [1], причем сложность построенных схем имеет тот же порядок роста, что и сложность схем, построенных только из надежных элементов. [24]
Таким образом, в базисе /, - при неисправностях типа 0 на выходах элементов почти все булевы функции можно реализовать схемами, асимптотически наилучшими по надежности [5], причем сложность построенных схем имеет тот же порядок роста, что и сложность схем, построенных только из надежных элементов. [25]
Таким образом, в базисе /, 1 при неисправностях типа 0 на выходах элементов почти все булевы функции можно реализовать схемами, асимптотически наилучшими по надежности [7], причем сложность построенных схем имеет тот же порядок роста, что и сложность схем, построенных только из надежных элементов. [26]
Таким образом, в базисе х / у при неисправностях типа 0 на входах элементов все булевы функции, кроме, быть может, константы 1, можно реализовать схемами, асимптотически наилучшими по надежности [4, 6], причем сложность построенных схем имеет тот же порядок роста, что и сложность схем, построенных только из надежных элементов. [27]
Таким образом, в базисе х I у при неисправностях типа 0 на входах элементов почти все булевы функции можно реализовать схемами, асимптотически наилучшими по надежности [4, 6], причем сложность построенных схем имеет тот же порядок роста, что и сложность схем, построенных только из надежных элементов. [28]
Таким образом, в базисе &, - при неисправностях типа 0 на входах элементов почти все булевы функции можно реализовать схемами, асимптотически наилучшими по надежности [4, 6], причем сложность построенных схем имеет тот же порядок роста, что и сложность схем, построенных только из надежных элементов. [29]
Таким образом, в базисе /, - при неисправностях типа 0 на входах элементов все булевы функции, кроме, быть может, констант, можно реализовать схемами, асимптотически наилучшими по надежности [4, 6], причем сложность построенных схем имеет тот же порядок роста, что и сложность схем, построенных только из надежных элементов. [30]