Cтраница 3
Имея в виду, что сама вычислительная система или ее вспомогательное оборудование могут функционировать неправильно, необходимо разработать надежные способы регистрации текущего состояния системы. Неправильная работа может быть вызвана и сбоями программного обеспечения, и неисправностью линий связи. Поэтому, если вдруг откажет выводное устройство, используемое для ведения протокола работы системы, а она будет продолжать обработку данных, могут возникнуть серьезные затруднения. Другую проблему представляет перемежающаяся неисправность, обнаруженная в момент, когда система занята выполнением таких операций, что ее невозможно остановить для корректирующих действий. [31]
Метод фазового тестирования также полезен при обращении с перемежающимися неисправностями. Пользователь может предусмотреть повторное выполнение некоторых фаз в надежде, что это приведет к правильному диагностированию. Обычно многократное повторение всей диагностической процедуры неудобно из-за увеличения продолжительности времени сеанса. Кроме того, вероятность присутствия перемежающейся неисправности в течение всей диагностической процедуры, как правило, возрастает по мере сокращения ее продолжительности. [32]
Если же обратиться к типам неисправностей, то здесь Чжен [ 151 предложил гибкий табличный подход. Определение моделирующей системой обычных типов неисправностей является в этом случае результатом выбора последних из заданной совокупности неисправностей. Другие типы отказов, приводящие к нелогическим изменениям в моделируемых системах, пока еще не изучены достаточно хорошо. Классическим примером таковых является изменяющаяся во времени, перемежающаяся неисправность. [33]
По мере перехода к созданию более быстродействующих вычислительных машин на основе ИМС средней степени интеграции возникла тенденция к производству модулей большого объема, хорошо удовлетворяющих функциональному модульному принципу. Процессоры мини - ЭВМ, а также ЗУ и каналы ввода-вывода, по-видимому, создаются из 3 - 10 разных типов модулей. Более сложные системы могут содержать свыше 100 разных типов модулей, каждый из которых состоит из 100 ИМС и более. При укрупнении модулей, хотя время простоя системы можно сократить, остается проблема воспроизведения и диагностирования отказов в тестовом режиме или на ремонтных станциях. При неудачной организации этих процессов многие резервные модули могут содержать неисправленные перемежающиеся неисправности. [34]
Простейшие испытательные программы могут вызвать значительное снижение пропускной способности системы при работе пользователя ( например, на 10 %) из-за времени, необходимого для внешнего обмена, всякий раз, когда в это время задача пользователя с наивысшим приоритетом требует работы процессора. Более совершенные испытательные программы со встроенным планировщиком создают очередь из своих программ, предназначенных для выполнения через определенные интервалы времени ( например, через каждые 10 мин) с длительностью выполнения в течение определенного времени ( например, в течение 2 с) или заданное число раз, причем значения этих интервалов и длительностей выполнения изменяются в соответствии с требованиями конкретного пользователя или в связи с необходимостью более частого повторения программ, если ожидаются отказы оборудования. Комбинация испытательных программ рассматриваемого класса для процессора и периферийных устройств может составить хорошую программу проверки взаимодействия отдельных частей системы, особенно для поиска отказов, вызванных взаимодействием оборудования и управляющего программного обеспечения. Кроме того, они полезны при приемных испытаниях и проверке готовности для определения жизнеспособности новой системы. Однако не рекомендуется регулярно выполнять такие испытательные программы проверки взаимодействия одновременно с работой пользователей, так как, по-видимому, время простоя при этом скорее увеличится вследствие затрат на восстановление системы после отказов, вызванных неправильным взаимодействием, чем сократится за счет воспроизведения и устранения перемежающихся неисправностей в более короткие сроки. [35]
Проблема разрешающей способности по времени заключается в ограничении программного доступа к реакциям устройства на тестовые стимулы интервалом времени, соответствующим циклу процессора. Такая ситуация затрудняет выявление истинной реакции схем, отделяет анализ реакций от действительного момента проявления неисправности. При пультовых режимах анализа работы системы возникают затруднения в выделении минимальной по длине цепочки изменения состояния системы. Эту проблему в настоящее время решают сокращением программно доступных интервалов времени путем придания процессору возможности работать под управлением специальных команд на небольших интервалах времени, которые могут составлять отдельные части машинной операции или даже такты работы процессора. Проблема решается за счет ввода специальной аппаратуры, пультовых переключателей, чувствительных к результату выполнения не только одной машинной операции, но и тактов работы машины. В процедурах диагностики увеличение разрешающей способности по времени достигают за счет реализации специальных диагностических команд и микродиагностики. В итоге создается возможность наблюдать, анализировать небольшие элементарные процессы, прежде чем они будут замаскированы или запутаны другими действиями процессора, и сокращать время диагностики, особенно при наличии перемежающихся неисправностей. [36]