Нерезкость - рассеяние
Cтраница 1
 |
Эталоны чувствительности. а - кановочныц, б - проволочный, в - пластинчатый. [1] |
Нерезкость рассеяния, преобразование радиационного изображения и предел разрешения радиационного преобразователя являются основными параметрами формирования световой картины. [2]
 |
Зависимость чувствительности от энергии излучения ( для РУЛ-150-10 / 35. [3] |
Нерезкость рассеяния возникает за счет рассеяния первичного излучения в материале объекта или в детекторе радиационного излучения. [4]
 |
Эталоны чувствительности. [5] |
Нерезкость рассеяния, преобразование радиационного изображения и предел разрешения радиационного преобразователя являются основными параметрами формирования световой картины. [6]
Нерезкость рассеяния возникает за счет рассеяния первичного излучения в материале объекта или в детекторе радиационного излучения. [7]
Для измерения нерезкости рассеяния используется способ границ. Сущность его заключается в следующем: в процессе облучения непосредственно перед пленкой устанавливается свинцовый трафарет, выполняющий роль тенеобразующего объекта. Полученное при этом на пленке распределение плотности почернения зависит от кривой почернения и области почернения. Поэтому необходимо определить зависимость плотности почернения от энергии просвечивания. Для этого каждое значение плотности на эталоне заменяют соответствующим значением энергии излучения и снимают кривую распределения энергии. [8]
Экранная и внутренняя нерезкостн являются нерезкостью рассеяния Uv, которая зависит не только от типа экранов и пленок, но и от энергии падающего на них излучения; 1 / р определяется опытным путем - микрофотометра-рованием границы изображения свинцового бруска. [9]
При этом следует иметь в виду, что в противоположность внутренней нерезкости, нерезкость рассеяния зависит от толщины материала. [10]
 |
Зависимость абсолютной чувствительности Wa6c от толщины стали для различных источников излучения. [11] |
Общая нерезкость изображения определяется воздействием нескольких видов нерезкостей: геометрической, внутренней, нерезкости рассеяния и смещения. [12]
 |
Зависимость нерезкости расстояния и от толщины стали d I - Со 0. 2 - Cs137. 3 - lrm. [13] |
Причем оно настолько мало, что при гамма-дефектоскопии может не учитываться. В равной степени это допущение справедливо и для нерезкости рассеяния MS. Таким образом, представленные на рис. 4 результаты пригодны для всех практически используемых в гамма-дефектоскопии комбинаций экранов. [14]
 |
Зависимость дозового фактора накопления от толщины стали для радиоизотопных источников. [15] |
Страницы: 1 2