Геометрическая нерезкость
Cтраница 1
Геометрическая нерезкость обусловлена конечными размерами эффективного фокусного пятна источника и геометрическими параметрами устройства, формирующего радиационное изображение. [1]
 |
Схема просвечивания с использованием компенсаторов.| Область применения радиографических пленок при просвечивании стали ( а и алюминия ( в. [2] |
Геометрическую нерезкость щ определяют из условия иг мв при просвечивании тонкостенных изделий; мг Мр при просвечивании изделий большой толщины, когда рассеянное излучение существенным образом ухудшает выявляемость. [3]
Геометрическую нерезкость устанавливают из условия г в при просвечивании тонкостенных изделий; ИГ ИР при просвечивании изделий большой толщины, когда рассеянное излучение оказывает значительное влияние на выявляемое дефектов. [4]
Геометрическую нерезкость г определяют из условия иг ив при просвечивании тонкостенных изделий; г UP при просвечивании изделий большой толщины, когда рассеянное излучение существенным образом ухудшает выявляемость. [6]
 |
Схема просвечивания с использованием компенсаторов.| Область применения радиографических пленок при просвечивании стали ( а и алюминия ( б. [7] |
Геометрическую нерезкость иг определяют из условия иг мв при просвечивании тонкостенных изделий; ur tip при просвечивании изделий большой толщины, когда рассеянное излучение существенным образом ухудшает выявляемость. [8]
Из-за внутренней и геометрической нерезкости при использовании флуороскопических экранов не удается, как правило, получить разрешающую способность лучше 3 линий / мм. Яркость свечения флуороскопических экранов составляет от 10 - 4 до 10 кд / м2 ( при просвечивании алюминия толщиной 5 - 50 мм фотонами с энергией 30 - 120 кэВ), а для работы глаза благоприятной является яркость 100 кд / м2 и более. В связи с тем, что чувствительность к дефектам улучшается с увеличением яркости, просвечивание на флуороскопический экран следует проводить при максимальном токе рентгеновской трубки. Сложнее обстоит дело с напряжением. При напряжениях ниже 200 кВ яркость возрастает с увеличением напряжения, однако при этом уменьшается величина линейного коэффициента ослабления излучения в материалах и, следовательно, постепенно начинает ухудшаться контрастная чувствительность к дефектам. При увеличении напряжения свыше 200 кВ несмотря на увеличение мощности экспозиционной дозы, мощность дозы, поглощенная в тонком флуоро-скопическом экране, уменьшается и, следовательно, уменьшается яркость свечения. [9]
U - максимальная допустимая геометрическая нерезкость изображений дефектов на снимке, мм; F - фокусное расстояние, мм; s - максимальная толщина контролируемого сварного соединения в направлении излучения, мм; г, R - соответственно внутренний и внешний радиусы контролируемого сварного соединения, мм. [10]
 |
Схема образования полутени. [11] |
Для тонкого материала геометрическая нерезкость обычно невелика, но для толстых материалов желательно увеличение расстояния D, что приводит к длительной экспозиции. Стандарты по рентгеновским методам обычно ссылаются на таблицы или графики, которые дают соответствующие значения D для данных значений t, принимая во внимание - размеры источника и зерна пленки. [12]
Полутень, вызванная геометрической нерезкостью, ведет также к неоправданному увеличению дозы облучения при исследовании, поэтому из двух близких систем предпочтительней та, у которой фокус меньше. [13]
 |
Влияние расстояний от пленки до дефекта и до источника излучений на величину геометрической нерезкости. [14] |
В общем случае значение геометрической нерезкости должно составлять не более половины значения чувствительности контроля в мм. [15]
Страницы: 1 2 3