Cтраница 4
Совокупность неровностей поверхности с относительно малыми шагами, выделенная с помощью базовой длины, называется шероховатостью поверхности. [46]
Общий вид электроимпульсного пропшвочно-кбпиро-вального станка модели 473. [47] |
Вследствие неровностей поверхности диска п заготовки в месте контакта получается повышенное сопротивление прохождению электрического тока, что приводит к разогреву и размягчению материала заготовки. Для предотвращения плавления диска скорость его перемещения относительно заготовки должна быть в пределах 30 - 80 м / сек ( это сокращает продолжительность контакта контактирующего участка диска с заготовкой) шш необходимо применить охлаждение. [48]
Вследствие неровностей поверхности трущихся тел изнашиваются, причем более мягкие и шероховатые поверхности стираются быстрее, чем твердые и гладкие. [49]
При неровностях поверхности, значительно меньших длины волны отражаемых колебаний, их форма не оказывает существенного влияния на наблюдаемое зеркальное отражение. [50]
Гоафик теоретически достижимой чувствительности метода ультразвуковой дефектоскопии с непрерывным изучением сигнала, с теневым методом приема и с учетом явления дифракции. [51] |
У отливок неровность поверхности может быть во много раз больше, чем у прокатанного металла, а на поверхности сварных швов она еще больше, чем на отливках - - по этой причине без особых приспособлений сварные швы невозможно исследовать ультразвуком при установке излучающих и приемных пластинок на шов. [52]
Данные о неровности поверхностей цапфы и вкладыша см. на стр. [53]
Сферичность и неровность поверхности Земли также оказывает большое влияние на распространение радиоволн. Любые два пункта Земли разделены шаровым сегментом, который исключает возможность связи прямолинейными лучами, если антенны радиостанций не имеют достаточной высоты. [54]
Рефрактометр Хильгер - Ченс ( вид сзади.| Кювета для работы с жидкостями к рефрактометру Хильгер - Ченс. [55] |
Жидкость заполняет неровности поверхности образца и клинообразное пространство между гранями образца и призм, возникающее при отклоне-ни преломляющего угла образца от прямого. Благодаря этому отпадает необходимость полировать образец и точно измерять угол между его гранями, что очень упрощает и ускоряет измерения. [56]
Схема ориентации атомных плоскостей в отдельных субзернах ( блоках мозаики монокристалла.| Физическая картина, создаваемая при ударе летящей частицы о твердую поверхность. [57] |
Средние высоты неровностей поверхности колеблются от 20 нм ( для хорошо полированной поверхности металла) до нескольких микрометров. [58]
Интерференционный микроскоп сравнения ( ИМС.| Схема теневого метода контроля сферической поверхности.| Схема контроля методом светового сечения. [59] |
Для измерения неровностей поверхности до 40 мкм разработан растровый микроскоп. Принцип его действия заключается в образовании муаровых полос при взаимном смещении или развороте двух растров, например, в виде решеток. Оптическая схема прибора аналогична схеме двойного микроскопа. При этом вместо щели на поверхность изделия проектируется изображение растра, наблюдаемое с помощью второй ветви оптической системы микроскопа. [60]