Область - объект
Cтраница 3
В верхней части этого окна расположена панель инструментов, а около левого края расположена область объектов ( Объекты), которая содержит перечень объектов базы данных Access. Так как выделен пункт Tables ( Таблицы), правая панель этого окна отображает список таблиц, содержащихся в этой базе данных. [31]
Одним из первых вопросов, возникающих при создании системы информационных процессов, является вопрос об области объектов, с которыми система будет оперировать. По мере того как начинает вырисовываться программа, целесообразно фиксировать по крайней мере некоторые из особенностей, которые затем, как предполагается, можно будет принять для характеристики всех объектов, с которыми придется встречаться, или всех объектов некоторого подмножества этой области. Где-то в системе должны быть также наложены ограничения, например на возможные связи между объектами, на условия, при которых объекты могут изменяться, и на возможности модификации самой области путем добавления или исключения объектов. [32]
Если при записи очередного объекта обнаружилось, что область хранения объектов переполнена, выдается сообщение Область объектов переполнена и запись объекта не производится. [33]
Чтобы построить конструктивную модель, надо отправляться от некоторой конечной ( и непустой) или счетно-бесконечной области D объектов. В качестве D в каждом случае можно взять натуральный ряд чисел N, выбирая, если область D отлична от N, некоторый фиксированный эффективный пересчет этой области ( с повторениями, если она конечна) и рассматривая затем вместо первоначальных объектов их индексы в этом пересчете. Но на практике удобно бывает иметь дело непосредственно с другими областями. Случай конечной области допускает более простое рассмотрение с помощью теоремы 20 § 36, обобщенной таким образом, что в процедуру оценки включаются индивидуальные и функциональные символы. [34]
Основным информационным параметром при ТНК является локальная разность температур между дефектной ТА и бездефектной Tg областями объекта AT ТА - Тв. Знак перепада зависит от соотношения теплофизических свойств дефекта и изделия и исследуемой поверхности. При нагреве изделий, содержащих дефекты, плохо проводящие тепло ( типа газовых включений), перепад положителен для поверхности, подвергнутой нагреву ( т.е. место дефекта характеризуется локальным повышением температуры), и отрицателен для противоположной стороны. В случае дефекта, проводящего тепло лучше основного изделия ( металлические вкрапления), знак перепада изменяется на обратный. [35]
При п 2 ( 3) число различных систем простейших программ вычислений над n - элементной областью объектов, обладающих различными вычислительными возможностями, равно 5 ( 53) и в параграфе 3.5 явно перечислены подобные системы простейших программ вычислений. [36]
Основным информационным параметром при ТНК является локальная разность температур между дефектной ТА и бездефектной Тв областями объекта ДГ ТА - Т в - Знак перепада зависит от соотношения теплофизических свойств дефекта и изделия и исследуемой поверхности. При нагреве изделий, содержащих дефекты, плохо проводящие тепло ( типа газовых включений), перепад положителен для поверхности, подвергнутой нагреву ( т.е. место дефекта характеризуется локальным повышением температуры), и отрицателен для противоположной стороны. В случае дефекта, проводящего тепло лучше основного изделия ( металлические вкрапления), знак перепада изменяется на обратный. [37]
 |
Трансформация структуры твердого сплава в процессе посткристаллизации при температурах около 2 / 3 Тщ ш. [38] |
Неотъемлемым свойством фрактальных структур является наличие флуктуации плотности - например, в направлении прямой, проведенной через какую-либо область объекта с фрактальной структурой плотность вещества кластера будет сильно различаться. В связи с этим процесс посткристаллизации характеризуется значительными флуктуаииями многих параметров во времени. [39]
Неотъемлемым свойством фрактальных структур является наличие флуктуации плотности - например, в направлении прямой, проведенной через какую-либо область объекта с фрактальной структурой, плотность вещества кластера будет сильно различаться. В связи с этим процесс посткристаллизации характеризуется значительными флуктуациями многих параметров во времени. [40]
При слишком малом размере селекторной диафрагмы возникает несоответствие между областью объекта, где изображается селекторная диафрагма, и областью объекта, от которой фактически получается дифракционная картина. Это несоответствие может быть следствием неточной фокусировки. Однако существует и принципиальное ограничение, связанное со сферической аберрацией объективной линзы. Как видно на схеме ( рис. 20 26), сферическая аберрация вызывает смещение изображения селекторной диафрагмы. Из-за сферической аберрации электроны, покидающие объект с разных направлениях и формирующие разные рефлексы возле главной фокальной плоскости, относятся к разным участкам объекта. В микроскопе с ускоряющим напряжением 100 кВ смещения для отражений второго и третьего порядков достигают нескольких десятых долей микрометраv поэтому обычно получают картины дифракции от области около 1 мкм в поперечнике. [41]
Из представленных формул видно, что измерение зависимости интенсивности рассеянного излучения от углового вектора рассеяния позволяет понять, какой области объекта соответствует информация по рассеянию. [42]
Радиоволновые дефектоскопы являются весьма эффективным средством контроля новых современных конструкционных материалов, особенно композиционных типа армированных изделий, стеклопластиков, и их использование для неразрушающего контроля в области объектов из диэлектрических материалов является весьма перспективным. [43]
Если условиться в том, что два объекта а и Ь отличны тогда и только тогда, когда они не удовлетворяют отношению эквивалентности а Ь, то из первоначальной области объектов возникает путем абстракции новая область объектов. [44]
Другим важным следствием (4.65) является то, что для получения сильно уменьшенного изображения, необходимого для диагностики высокого разрешения, желательно создавать в области изображения потенциалы много большие, чем в области объекта. Если это неосуществимо, то приходится использовать большое угловое увеличение, что является весьма неблагоприятным с точки зрения аберраций. [45]
Страницы: 1 2 3 4