Cтраница 4
Однако возрастающая функциональная сложность микроэлек-тронной аппаратуры, различные области применения микросхем, повышение степени интеграции элементов требуют повышения надежности микросхем. Технические пути повышения надежности могут быть различными: развитие научных основ проектирования изделий ( аппаратуры) с целью обеспечения заданных требований к надежности и долговечности и принятие ряда мер по совершенствованию методов конструирования, улучшение технологии, применение более надежных ( материалов и комплектующих изделий, использование специальных приемов, изучаемых теорией надежности ( например, резервирования), и др. Результаты испытаний микросхем на надежность и прогнозирование надежности показывают, что полезным инструментом для повышения надежности микросхем, особенно тех, которые должны иметь высокую надежность, является анализ отказов. Такой анализ на основе механизмов, возникающих при ускоренных испытаниях микросхем на надежность, требует понимания физики отказов. [46]
За последнее время характер распределения бериллия по различным областям применения значительно изменяется в направлении использования его в атомной энергетике. [47]