Ультрафиолетовая облученность
Cтраница 1
Ультрафиолетовая облученность измеряется радиометрами типа UV Р-365 в мкВт / см2 или аналогичными. [1]
Ультрафиолетовую облученность определяют в относительных единицах по показаниям люксметра. [2]
Ультрафиолетовую облученность измеряют уфимет-рами и интенсиметрами типов УФИ и УФМ, а дозы облучения - дозиметрами типа УФД, или ультрафиолетовыми радиометрами. [3]
При этом ультрафиолетовая облученность контролируемой поверхности должна быть не менее 2000 мкВт / см2 и 500 мкВт / см2 при технологическом контроле, который устанавливается в нормативной технической документации предприятия. [4]
 |
Схемы измерения ультрафиолетовой ( а и видимой ( б составляющих. УФ-облучателя. [5] |
Методика определения ультрафиолетовой облученности и ее видимой составляющей от ультрафиолетового облучателя приведена ниже. [6]
Между тем существующие требования безопасности не позволяют увеличивать ультрафиолетовую облученность, что сдерживает развитие дефектоскопии и делает актуальной научную разработку норм УФ-облучения специально для условий промышленного контроля. [7]
Мощность ультрафиолетовых облучателей должна соответствовать необходимому уровню чувствительности: так для I и II уровней чувствительности ультрафиолетовая облученность должна быть от 200 до 400, для III уровня - от 100 до 200 и для IV уровня - от 50 до 100 относительных единиц. [8]
 |
Спектральное ( а и полярное ( б распределения УФ-излучения дефектоскопической лампы ( в мощностью 6 Вт. [9] |
Ультрафиолетовую облученность, как и составляющую освещенности в видимом диапазоне определяют прямыми измерениями. [10]
 |
Схемы измерения ультрафиолетовой ( а и видимой ( б составляющих. УФ-облучателя. [11] |
Ультрафиолетовую облученность следует определять по схеме, приведенной на рис, 6, а, следующим способом. [12]
 |
Спектральное ( а н полярное ( б распределения УФ-излучения дефектоскопической лампы ( в мощностью 6 Вт. [13] |
Ультрафиолетовую облученность, как и составляющую освещенности в видимом диапазоне определяют прямыми измерениями. [14]
При люминесцентном методе капиллярной дефектоскопии с визуальным способом обнаружения дефектов следует использовать ультрафиолетовое излучение с длиной волны 315 - 400 нм, а облученность контролируемой поверхности измеряют интегрально в энергетических единицах. Иногда применяют косвенную систему интегральной оценки ультрафиолетовой облученности по измерению освещенности ( или яркости), создаваемой люминесцентным экраном, изготовленным согласно изложенному ниже. [15]
Страницы: 1 2