Cтраница 1
Анализ чистых материалов представляет собой довольно обширный раздел спектрального анализа. Ниже рассмотрено несколько примеров, поясняющих подход к решению таких задач. [1]
Статьи, касающиеся анализа чистых материалов, весьма многочисленны. [2]
Несколько в стороне от анализа чистых материалов стоит вопрос об анализе атомного сырья и полупродуктов на содержание в них ценных материалов - в первую очередь урана. Содержание урана во многих рудах, имеющих промышленное значение, не превосходит сотых долей процента. В отходах производства урана содержание его в растворах часто измеряется еще меньшей величиной. Необходимо иметь быстрые и достаточно точные способы анализа руд и растворов на содержание урана, и здесь спектральные методы также призваны сыграть важную роль. Сколько-нибудь детальное рассмотрение этих вопросов, однако, выпадает из общего плана книги, поскольку анализ руд и минералов представляет самостоятельную проблему, требующую отдельного изложения. Прекрасная монография А. К. Русанова, посвященная этой теме, позволяет ограничиться лишь разбором отдельных работ. [3]
Во-первых, большинство методов анализа чистых материалов предусматривает выделение примесей из довольно большой навески пробы и анализ выделенного концентрата на содержание группы нужных элементов. С помощью спектрографа может быть зарегистрирован весь спектр одновременно и проведен анализ на все элементы. Для таких исследований фотоэлектрическим методом необходимы многоканальные квантометры, не получившие пока широкого распространения. [4]
Метод чрезвычайно перспективен для анализа чистых материалов. Использование его в практическом анализе тормозится пока отсутствием специальной аппаратуры. [5]
Из электрометрических методов при анализе чистых материалов наибольшее применение находит полярография. [6]
Таким образом, при анализе чистых материалов химические методы дают возможность достигнуть чувствительности порядка 10 - 4 - 10 - 5 % ( редко 10 - 6 %), что превышает чувствительность прямого спектрального анализа, но заметно уступает чувствительности химико-спектрального метода. [7]
Однако имеется много важных задач анализа чистых материалов, для выполнения которых метод нуждается в серьезных усовершенствованиях. [8]
Многолетний опыт работы группы по анализу чистых материалов обобщен в вышедшей под редакцией X. [9]
Выделен в особый раздел спектрального анализа анализ чистых материалов. К таким материалам могут относиться, в частности, и металлы и газы, но в основном это полупроводниковые материалы, материалы, применяемые в атомной промышленности, люминофоры, многие химические реактивы. [10]
Следует также иметь в виду, что при анализе чистых материалов очень часто достаточно знать, что определяемые примеси не содержатся в анализируемой пробе в пределах технологических требований к материалу. В этом случае метод испарения неоценим, позволяя быстро дать такой ответ относительно группы примесей одновременно. [11]
Таким образом Спектрофотометрические методы могут иметь существенное значение в анализе чистых материалов. [12]
Из сказанного ясно, что метод испарения наиболее эффективен при анализе чистых материалов, содержащих ничтожные примеси. Можно определить малые примеси и в относительно грязных пробах, разбавляя их чистой основой, разумеется, с соответствующей потерей относительной чувствительности. Если элементы, содержащиеся в больших концентрациях, сильно отличаются по своей летучести от остальных примесей, возможно проводить раздельное испарение на разные электроды. Таким путем иногда удается проводить анализ сплавов. [13]
Такого рода задачи могут решаться обычными методами спектрального анализа и не имеют той специфики, которая характерна для анализа чистых материалов. Мы практически не затрагиваем также методов анализа атомного сырья - руд и первичных продуктов их переработки. [14]
Совершенно недостаточно применяется вариант атомно-абсорбционного метода с графитовой кюветой, хотя его достоинства в ряде специальных областей анализа - микроанализа и анализа чистых материалов - несомненны. [15]