Анализ - покрытие
Cтраница 2
 |
Теоретические составы КЭП на основе некоторых металлов. [16] |
Значение avi находят из уравнения ( 16), заменяя в нем значения ат парциальным массовым содержанием частиц атг. Последнее определяют экспериментально при анализе покрытия. [17]
Неопытного, торопливого и неосторожного аналитика ожидает много ловушек как в процессе подготовки образцов, так и при интерпретации спектра. На некоторые из них указала Кравер [64], чью главу об анализе покрытий должен прочитать каждый, кто проводит такого рода работу. Практические приложения ИК-спектроскопии и газовой хроматографии в производстве красителей обсуждены Хельменом [117], который представил и иллюстративные примеры. [18]
Метод лунных покрытий широко использовался в оптической и ИК-астрономии для измерения размеров и затемнений лимбов звезд, а также расстояния между компонентами тесных двойных систем. Согласованность полученных результатов и результатов оптической интерферометрии доказывает, что метод лунных покрытий не подвержен искажениям из-за лунной топографии, как это могло ожидаться при величине отклонений сравнимых со шкалой Френеля. Типичными являются измерения угловых размеров вплоть до 1 мсек дуги. Анализ кривых покрытий звезд обычно выполняется путем подгонки параметризованных моделей, а не методами восстановления, используемыми в радионаблюдениях, описанных выше. [19]
Так как покрытия часто являются сложными смесями многих компонентов ( некоторые из них могут иметь сильное поглощение, а другие - слабое), то такие грубые, усредненные анализы могут ввести в заблуждение. Более полный анализ таких композиций требует тщательного разделения на компоненты, которые затем необходимо охарактеризовать. Каппельмайер [149] предложил последовательность операций для анализа покрытий на основе смол, которые включают методы местных проб, омыление и другие химические операции, а также экстракцию растворителем. В качестве примера на рис. 5.24 показана схема анализа полиэфиров. [20]
В рентгеновской эмиссионной спектроскопии твердотельный образец бомбардируется электронами или рентгеновскими квантами высокой энерАии, в результате чего многие атомные уровни ионизируются. Затем атомы переходят в свое основное состояние, испуская характеристическое рентгеновское излучение. Эмиттированные фотоны регистрируются рентгеновским спектрометром и измеряется интенсивность выбранной рентгеновской линии. Это единственный неразрушающий метод в табл. 2.1, но сечение рентгеновской эмиссии может быть довольно мало и интенсивность рентгеновских спектров низка. Поэтому чувствительность этого метода обычно недостаточно велика для анализа покрытий, составляющих доли монослоя ( субмонослойные покрытия), за исключением наиболее благоприятных условий эксперимента. [22]
Страницы: 1 2