Обработка - рентгенограмма
Cтраница 3
Должен знать: свойства рентгеновских лучей; природу возникновения рентгеновских спектров и дифракции рентгеновских лучей в кристалле; устройство и назначение высоковольтных генераторов, пультов управления, охладительных устройств; характеристики аппаратов, применяемых в рентгеноструктурных исследованиях; конструкции рентгеновских камер; методы приготовления некоторых селективно-поглощающих фильтров; обработку рентгенограмм; устройство микрофотометров, приемы работы на них; фотометрирование рентгенограмм визуально и с записью интенсивности на фотоматериал; измерение интегральной ширины линии с помощью планиметра; приемы работы и основные неисправности ионизационной установки; определение рабочей характеристики счетчика импульсов; подбор рабочего времени и замену счетчика в случае неисправности; подбор и смену щели у трубки и счетчика; установку различных скоростей диаграммной ленты на потенциометре; запись распределения интенсивности по сечению линии по точкам; общие представления об искажениях и напряжениях кристаллической решетки. [31]
Должен знать: свойства рентгеновских лучей; природу возникновения рентгеновских спектров и дифракции рентгеновских лучей в кристалле; устройство и назначение высоковольтных генераторов, пультов управления, охладительных устройств; характеристики аппаратов, применяемых в рентгеноструктурных исследованиях; конструкции рентгеновских камер; методы приготовления-некоторых селективно - Поглощающих фильтров; обработку рентгенограмм; устройство микрофотометров, приемы работы на них; фотометрирование рентгенограмм визуально и с записью интенсивности на фотоматериал; измерение интегральной ширины линии с помощью планиметра; приемы работы и основные неисправности ионизационной установки; определение рабочей характеристики счетчика импульсов; подбор рабочего времени и замену счетчика в случае неисправности; подбор и смену щели у трубки и счетчика; установку различных скоростей диаграммной ленты на потенциометре; запись распределения интенсивности по сечению линии по точкам; общие представления об искажениях и напряжениях кристаллической решетки. [32]
 |
Определение оси текстуры [ 00I ] электролитического осадка никеля. [33] |
Любое кристаллическое вещество должно давать на рентгенограмме столько отражений, сколько предусматривается теорией рассеяния. Поэтому, если вопреки теории некоторые отражения на опыте отсутствуют, к обработке рентгенограммы следует относиться с особенным вниманием так, чтобы никаких противоречий не оставалось. Если этого не сделать, то окончательный вывод может оказаться ложным. [34]
Начиная с ромбической сингонии, такой проблемы нет, но возрастает число случайных совпадений. Это приводит к тому, что методы структурного анализа, разработанные в расчете на монокристалльные данные, оказываются малопригодными для обработки рентгенограмм порошка. [35]
Внутренний диаметр камеры равен 57 3 мм. При таком размере камеры выраженное в миллиметрах расстояние от центра рентгенограммы до некоторой линии численно равно дифракционному углу, выраженному в градусах, что существенно упрощает обработку рентгенограмм. [36]
 |
Рентгенограммы поверхности трения композиционного материала криолон-3 в исходном состоянии ( а и после трения при температурах 173 К ( б. 237 К (, 353 К ( г. [37] |
Известно, что в процессе приработки металлополимерных сопряжений на металлическом контртеле образуется пленка фрикционного переноса, состав, структура и свойства которой имеют определяющее значение в механизме трения и изнашивания сопряжения. Рассмотрим изменение структурно-фазового состава пленки фрикционного переноса в процессе длительного ( до 52 часов) трения. Обработка рентгенограмм, снятых после 12, 20 и 32 часов трения, показала, что пленка фрикционного переноса, кроме фторо-пласта-4, содержит медь и что при этом в полимерной матрице нет кристаллических областей. [38]
На рис. 3 ( прямая /) приведен подобный градуировочный график для смеси двух модификации SiOi-кварца и кристобалита. Из графика следует, что контрольные экспериментальные точки очень хорошо ложатся на вычисленную прямую. Определение содержания кварца в смеси состоит из трех этапов: определение интенсивности / о наиболее сильной линии чистого кварца а 3 34 А); определение интенсивности той же линии / в исследуемой смеси при постоянных условиях съемки и обработки рентгенограмм; нахождение содержания кварца в смеси по градуировочному графику. [40]
Для обеспечения минимальной нерезкости коэффициент увеличения у должен быть близок к 1, размер излучающего пятна / должен быть минимален. Длительность экспозиции тэ должна быть такой, чтобы за время экспозиции размытие изображения исследуемого объекта вследствие его смещения иг уОтэ не превышало геометрической нерезкости или половины размера интересующей нас детали изображения. При обработке рентгенограмм выделяют также нерезкость рассеяния г / р, возникающую при экспонировании изображения. [41]
По мнению Валенкова и Порай-Кошица, это свидетельствует, что структура стекла представляет собой смесь кристаллитов кристобалита и метасиликата натрия. К стеклам рассматриваемой системы может быть применен также метод суммирования кривых рассеяния, полученных путем размывания кривых кристаллических ингредиентов. Такой метод обработки рентгенограмм назван методом аддитивности. [42]
Поскольку в минимуме М амплитуда равна нулю, можно взять более широкую щель для фильтрации и значительно улучшить качество изображений. Такое устройство автоматически смещает спекл-структуру, благодаря чему отпадает необходимость в смещении пластинки между экспозициями. На рис. 83 - 85 показан пример применения данного метода для обработки рентгенограмм черепа человека. На рис. 84 мы видим рентгенограмму мозга, в артерии которого введена специальная жидкость, повышающая контраст, и можно проследить ее распространение, если вычесть из этой рентгенограммы снимок ( рис. 83), сделанный до введения жидкости. [43]
Однако получение рентгенограмм из-за малой интенсивности рассеянных рентгеновских лучей требует длительной экспозиции ( в случае применения фотопленки), за время которой величина С может измениться. Этот недостаток в значительной мере может быть устранен при применении высокочувствительных дифрактометров. При исследовании эластомеров наибольший интерес представляет медленная кристаллизация при низких температурах, продолжающаяся иногда в течение многих суток. В этом случае применять рентгенографический метод для исследования кинетики кристаллизации нецелесообразно. Кроме того, обработка рентгенограмм трудоемка. [44]
Способы, описанные выше, дают представление о средней толщине пленки окисла и его рельефе. Принцип этого способа не отличается от рентгеноструктурного изучения кристаллических тел. Но жесткие рентгеновы лучи проходят на значительную глубину под поверхность и отражаются от кристаллических плоскостей, расположенных в глубине объекта. Пучку же электронов можно сообщить достаточно малую скорость, так что он не будет проникать глубоко в твердое тело, отражаясь от плоскостей, лежащих вблизи поверхности. Расшифровка электронограмм не отличается принципиально от обработки рентгенограмм. Электронографический способ исследования показывает, что окисные пленки часто представляют собой кристаллы с такой же решеткой, как у обычных окислов. Определив кристаллическую структуру окисной пленки, можно установить, какой именно окисел закрывает поверхность металла. [45]
Страницы: 1 2 3 4