Cтраница 2
При фотографических измерениях интенсивность может измеряться только после проявления и фотометрической обработки спектрограммы. [16]
По-видимому, значительный выигрыш в чувствительности определений можно получить, применяя специальные методы обработки спектрограмм. Сейчас намечено два таких приема. [17]
Ошибки анализа по методу испарения, связанные с возбуждением спектра, с фотографическим процессом и фотометрической обработкой спектрограмм, по своей величине не отличаются от ошибок обычных методов спектрального анализа. [18]
Особое значение в связи с применением анализаторов с числом каналов более 1000 имеет использование ЭВМ для обработки спектрограмм, полученных с полупроводниковыми детекторами. [19]
Полученные значения vesini были использованы для создания системы звезд со стандартными значениями скорости вращения, чтобы прямо измерять vesini при визуальной обработке спектрограмм. [21]
При этом поглощению в холодных слоях подвергаются в соответствии с законом Кирхгофа главным образом линии с низкими квантовыми числами, что при обработке спектрограммы самообращенных полос приводит к завышенным значениям температуры. [22]
Пики интенсивностей I-III уровней сравнительно легко регистрируются в масс-спектрах, а к уровню IV относят соединения, не дающие сигналов молекулярных ионов, или такие, где эти сигналы настолько слабы, что могут быть пропущены при обработке спектрограмм. [23]
Автоматическая обработка спектрограмм дает совершенно новые результаты, так как становится возможным почти безгранично использовать всю богатую информацию, содержащуюся в спектрограммах. Общепринятый способ обработки спектрограмм использует только несколько значений почернений, что обусловлено трудностями фотометрирования и утомительным процессом обработки данных измерения. Поэтому ценная информация, которую можно получить из спектрограммы, практически полностью теряется. К ней относятся почернения различных линий элементов и распределение почернений в зависимости от длины волны для каждой спектральной линии и для структуры спектральных полос. Обработкой этих данных можно значительно повысить воспроизводимость и точность анализа. Возможность использования большого числа линий определяемых и мешающих элементов дает дополнительное преимущество. Другим преимуществом способа является возможность применения различных и, если это необходимо, очень сложных методов введения поправок. [24]
Желательно, чтобы сопоставляемые спектры были бы сняты на одной пленке и проявлены одновременно. При достаточной стандартизации процесса обработки спектрограмм и особенно при анализе проб на большое число элементов может оказаться более целесообразным проведение анализа путем сравнения интенсивностей на спектрограмме от неизвестного образца со стандартными спектрами, полученными заранее в тех же условиях от эталонных образцов. Набор эталонов должен перекрывать весь интервал изменения содержания элементов в испытуемых пробах. Наиболее удобно проводить анализ образцов, содержащих от 0 05 до 7 - 10 % элементов. При анализе образцов с большим содержанием определяемого элемента рекомендуется работать с ослабителем или разбавлять пробу во столько раз, чтобы довести количество искомого элемента в ней до содержания порядка нескольких процентов. При подборе условий получения спектрограмм желательно, чтобы почернения спектральных линий находились в области пропорциональности между этими почернениями и интенсивностью линий. Для выполнения этого условия приходится разбивать пробы на две группы в зависимости от содержания определяемого элемента в них в пределах указанного выше интервала концентрации ( от 0 05 до 10 %) и для исследования проб каждой группы выбирать соответствующий режим работы трубки. Выбранное время экспозиции не должно быть очень мало, так как при этом колебания в условиях съемки последовательно разновременно полученных спектрограмм будут сильно сказываться на результатах анализа. [25]
Применяемый способ коррелятивной качественной характеристики асфальтово-смолистого комплекса нефтей и рассеянных битумов открывает совершенно новые возможности для изучения состояния и изменения этого комплекса во взаимосвязи с окружающей средой и изменением углеводородной части нефтей или битумов. По этим величинам в процессе обработки спектрограмм выводится ряд производных показателей, в той или иной мере уточняющих или расширяющих информацию об особенностях данного вещества в сравнении с исследованными аналогичными образом другими. [26]
При этом не только экономится время на проявление и обработку спектрограммы, но и сокращается расход фотоматериалов. Поэтому рабочую высоту щели спектрографа ограничивают до 0 9 - 1 мм. Это дает возможность разместить на фотопластинке шириной 90 мм спектр железа, спектры эталонов и до 70 спектров проб. В тех случаях, когда для анализа применяется ступенчатый ослабитель, высоту щели приходится увеличить и число спектров проб на пластинке соответственно уменьшается. [27]
![]() |
Принципиальная схема масс-спектрографа Томсона. [28] |
Градуировка прибора производится с помощью монокинетического пучка электронов от постороннего источника. Переменная чувствительность фотоматериалов к электронам с различной энергией, разумеется, затрудняет обработку спектрограмм. Для получения надежных результатов в процессе градуировки следует снимать кривые почернение - интенсивность в достаточно широком энергетическом интервале. [29]
Этот метод менее трудоемкий по сравнению с предыдущим и по экспериментальному выполнению и по технике обработки получен-вых спектрограмм. У спектрографов дисперсия слабо изменяется на протяжении ширины спектральной линии. Поэтому контур линии получается симметричным и мало искаженным. [30]