Анализ - распределение - интенсивность
Cтраница 1
 |
Ход изменения интенсивности диффузного рассеяния ( фона рентгенограммы. [1] |
Анализ распределения интенсивности по всей ячейке ОР позволяет определить бинарные параметры ближнего порядка для ряда координационных сфер. Преимуществом рентгеновского метода является то, что он применим и для концентрированных растворов, когда из-за малости длины свободного пробега электронов другие методы неэффективны. [2]
Используя различные методы Фурье - анализа распределения интенсивностей и проводя расчеты с помощью ЭВМ, определяют координаты отдельных атомов в элементарной ячейке. [3]
Следовательно, любой из методов анализа распределения интенсивности изображения для некогерентных систем, формирующих изображение, может быть применен для расчета распределения средней интенсивности спекл-структуры в изображении когерентно освещаемого шероховатого объекта. [4]
Соотношение ( 4) используется на практике для анализа распределения интенсивности света Р ( Г) по данным о распределении фотоотсчетов. [5]
При радиоволновом контроле геометрическим методом определение положения максимума интенсивности СВЧ-излучения производится путем анализа распределения интенсивности излучения в пространстве. Наиболее надежным способом нахождения максимума является запись кривой распределения на бумагу, магнитофонную ленту или носитель информации аппаратуры с запоминающим устройством ( например, на осциллоскоп с памятью или в ЭВМ), для чего необходим также механизм перемещения. При наличии острого максимума возможно использование и прямопоказывающих приборов. В связи с этим по сравнению с другими методами контроля геометрический имеет болыцо. [6]
В принципе распределение ориентации в аморфных областях полимеров может быть определено путем анализа распределения интенсивности рассеяния в аморфном гало. [7]
Ни в одной из работ, использующих тлеющий разряд при комнатной температуре, не проводился анализ распределения интенсивности по колебательным переходам, но, вероятно, основное излучение связано с нижними уровнями. В большинстве случаев интенсивность излучения крайне мала и поэтому приходится экспериментировать при давлениях несколько мм рт. ст., когда колебательная релаксация галогенов достаточно эффективна. [8]
Наличие подобных складок должно изменить закон расположения ближайших сегментов в цепи. Однако анализ распределения интенсивности экспериментальных кривых МРН в области углов рассеяния, наиболее отстоящих от первичного пучка [12, 13], показал, что окружающие макромолекулы не изменяют локальных конформации сегментов: их распределение оказалось гауссовым, справедливым для невозмущенного клубка. [9]
 |
Зависимость между плотностью и рассеивающей силой различных вискозных волокон в высушенном состоянии. [10] |
Высказанная Стэттоном [170] гипотеза, что кривые рассеяния сухих волокон являются результатом наложения кривых рассеяния пустот различной величины, подтверждена измерениями Германса, Хей-кенса и Вейдингера. Поэтому анализ распределения интенсивности рассеяния структуры сухой целлюлозы не может быть проведен, если одновременно невозможно разделить рассеяние от пустот и от кристал-лическо-аморфной части целлюлозы. [11]
Это смещение приводит к асимметрии в их расположении относительно узлов обратной решетки матрицы. Следует, однако, иметь в виду, что анализ распределения интенсивностей, проведенный выше, носит качественный характер. [12]
Экспериментально можно показать, что малоугловая дифракция от ориентированных полимеров есть результат одномерной дифракции. Поэтому структурный элемент ( микрофибрилла), ответственный за появление малоугловой дифракции, должен обладать линейным периодическим строением. Так как большинству ориентированных полимеров свойственен дифракционный максимум лишь одного порядка ( очень редко 2 - 3), а максимумы имеют значительную ширину, то совокупность кристаллитов и аморфных участков образует малоупорядоченную одномерную систему. Для анализа распределения интенсивности дифракционных максимумов в этом случае наиболее часто применяют способ модельных расчетов, суть которого - в выборе определенной схемы строения фибрилл и последующем расчете дифракции по такой схеме. [13]
Быстрое уменьшение четкости рефлексов многих полимеров с ростом дифракционных углов и ход диффузного когерентного фона рассеяния могут быть в принципе объяснены на основе развитой Хоземан - [ 1ом теории паракристаллов, которая в известной мере занимает промежуточное положение между интерференционными теориями кристаллов и жидкостей. Структура этого паракристалла в общих чертах характеризуется тем, что ребра отдельных ячеек решетки колеблются по величине и направлению около некоторого среднего значения и что электронная плотность внутри каждой ячейки также колеблется независимо от электронных плотностей, соседних ячеек и размеров ребер решетки. Математические расчеты функции распределения интенсивности рассеяния были вначале приложпмы лишь к идеальным паракристаллам [57], колеблющиеся ячейки которых все-таки остаются параллелепипедами. В полную функцию распределения интенсивности входят не только деформации второго рода в кристаллитах, но также и размеры кристаллов. Бонарт [59] на основе анализа распределения интенсивности идеального паракристалла показал, каким образом оба эти фактора, влияющие на ширину линий рефлексов интерференционной диаграммы паракристаллической решетки, могут быть разделены между собой. [14]
Причина магнитного резонанса ( ЯМР и ЭПР) состоит в том, что у электронов и некоторых ядер имеется магнитный момент, взаимодействующий с приложенным магнитным полем. Существование - магнитных моментов определяется тем, что эти частицы обладают одновремен но электростатическим зарядом и механическим моментом - спином. Это свойство стало известно задолго до того, как были проведены первые опыты по магнитному резонансу. Спин электрона проявляется в виде тонкой структуры в атомных спектрах, в аномальном эффекте Зеемана и в результатах классического опыта Штерна - Герлаха, в котором пучок атомов серебра в S-состояиии расщепляется на два отдельных пучка при прохождении через неоднородное магнитное поле. В случае ядер это свойство обнаруживается в виде сверхтонкой структуры в атомных спектрах, однако для одного из важнейших ядер - ядра водорода - эту структуру непосредственно в атомных спектрах разрешить не удается. При анализе распределения интенсивностей колебательно-вращател - ных полос в молекулярных спектрах водорода был сделан вывод о существовании орто - и параводорода - двух разновидностей его молекул, которые отличаются друг от друга только относительной ориентацией ядерных спинов. Наличие орто - и параводорода следует также из результатов измерения теплоемкости. [15]
Страницы: 1 2