Аттестованный образец

Cтраница 2

Изучение электрических и магнитных свойств, а также природы связи необходимо проводить более обстоятельно и на хорошо аттестованных образцах. Многие измерения выполнены на плохо охарактеризованных препаратах, для которых, как правило, не известны влияние примесей, отклонения от стехиометрии и пористость. Более ценны для этих исследований монокристаллы. Необходимо большее внимание уделять изучению оптических свойств, что открывает возможность использовать предложенный Лаем [9] подход к расчету зонной структуры. Изоэлектронная природа этих материалов и влияние на нее кристаллической структуры также должны быть исследованы в будущем. Стехиометрические высокочистые монокристаллы, если их удастся приготовить, будут особо ценны для изучения особенностей поверхности Ферми, а также для создания более совершенных теорий межатомных связей. [16]

Этот прием отличается от предыдущего тем, что разность между аттестованным образцом и измеряемым объектом стремятся сделать равной нулю, добиваясь одинаковых показаний прибора при измерении аттестованного образца и измеряемого объекта путем подбора образца соответствующего размера. Такой прием исключает систематическую погрешность, остаточная величина которой будет равна неточности аттестации образца. [17]

Контроль гладких цилиндрических изделий больших размеров. [18]

Теодолитом, установленным в фиксированной точке, производятся измерения угла 2сх0, образованного касательными к поверхности контролируемого вала, и угла 2j30 образованного касательными к поверхности аттестованного образца, который предварительно центрируется относительно детали. [19]

Способ замещения отличается от предыдущего тем, что разность между аттестованным образцом и измеряемым объектом стремятся сделать равной нулю, добиваясь одинаковых показаний прибора при измерении аттестованного образца и измеряемого объекта путем подбора образца соответствующего размера. Такой прием исключает систематическую погрешность, остаточное значение которой будет равно неточности аттестации образца. [20]

Контроль больших размеров гладких цилиндрических изделий. [21]

Вторым примером может служить метод центрированного образца, осуществляемый по схеме, показанной на рис. 5.20 Д С помощью теодолита, установленного в фиксированной точке, измеряют угол 2ао, образованный касательными к поверхности контролируемого вала, и угол 2р0, образованный касательными к поверхности аттестованного образца, который предварительно центрируется относительно детали. [22]

Заранее аттестованный образец и объект измеряются в одних к тех же условиях и тем же средством измерений. [23]

Во многих случаях аттестованные образцы покрытий входят в комплект толщиномера, иногда образцы изготовляет и аттестует потребитель. [24]

Контркалибры К-И для скоб размерами до 100 мм допускается изготовлять и применять только в тех случаях, когда в условиях эксплуатации затруднителен контроль плоскопараллельными концевыми мерами. Взамен контркалибров допускается пользоваться аттестованными образцами изделий. [25]

Установка и контроль скоб по контркалибрам должны производиться под такой же нагрузкой и теми же приемами, какие используются при контроле скобой изделия. Взамен контркалибров разрешается пользоваться аттестованными образцами изделий. [26]

Этот прием отличается от предыдущего тем, что разность между аттестованным образцом и измеряемым объектом равна нулю. При этом добиваются одинаковых показаний прибора при измерении аттестованного образца и измеряемого объекта, подбирая образец соответствующего размера. Такой прием исключает систематическую погрешность, остаточная величина которой будет равна неточности аттестации образца. [27]

Свет, отраженный от образца и эталона, падает по нормали на два специально подобранных фотоэлемента, и их фототоки выравниваются посредством изменения апертуры эталонного луча. Измерения можно проводить, установив в одно плечо прибора аттестованный образец и относительно него поочередно устанавливая в противоположное плечо прибора измеряемый образец и эталон. Таким образом исключаются погрешности измерений, связанные с незначительным различием чувствительности фотоэлементов. [28]

Тогда, если нет боль шой разницы в исследуемых величинах измеряемого объекта и образца, то систематическая погрешность исключается из результатов измерений, так как производится не измерение всей физической величины, а только ее отклонение от аналогичной вели чины образца. Так, например, чтобы исключить влияние деформации измеряемого объекта и измерительных наконечников, вызванной измерительным усилием или темперлтур-ными изменениями, производят установку прибора по предварительно аттестованному образцу того же размера, формы и изготовленного из того же материала. [29]

Устанавливается на нуль только шкала оптиметра. Между измерительными наконечниками задней и передней бабки, отрегулированными так же, как и в предыдущем случае, помещается установочная мера. Установочной мерой служат либо аттестованный образец, либо концевые меры. После удаления установочной меры с помощью накатных гаек 16 совмещают измерительные поверхности объекта с измерительными поверхностями наконечников и выравнивают объект по оси измерений, перемещая только один из люнетов в вертикальном направлении. Затем производят отсчет по шкале оптиметра. Размер проверяемого объекта будет равен сумме размера установочной меры и показаниям оптиметра с учетом знака. [30]

Страницы: 1 2 3