Прозрачный объект

Cтраница 3

Обычно в голографической интерферометрии прозрачных объектов изучают плавно изменяющиеся фазовые неоднородности такие, как процессы тепломассопереноса в газах и жидкостях, роста и растворения кристаллов в плазме, ударные волны, напряженные состояния прозрачных моделей, в которых происходят локальные изменения, температуры, плотности, концентрации и других параметров, приводящих к изменению показателя преломления. [31]

Хотя здесь говорилось о прозрачных объектах, исследуемых в проходящем свете, метод фазового контраста может быть применен и к непрозрачным объектам, исследуемым в отраженном свете. Например, полированные шлифы металлов подвергают предварительному травлению, чтобы можно было различать структуру поверхности. Но если отдельные элементы поверхности создают разные запаздывания фазы отраженного от них света, то с помощью фазово-контрастного устройства эти элементы поверхности могут наблюдаться и без предварительного травления. [32]

Трехлинзовый конденсор темного поля. [33]

В настоящее время для наблюдения прозрачных объектов в темном поле применяют линзовые и зеркальные ( параболоидные и кардиоидные) конденсоры. [34]

Принципиальная оптическая схема проекционного микроскопа. [35]

МПН-8, предназначенный для исследования прозрачных объектов и имеющий неподвижный наклонный тубус. Фокусировка производится движением предметного стола. [36]

Эксперименты по записи голографической интерферограммы прозрачных объектов методом двух экспозиций проводились в адекватных условиях записи голограммы транспарантов ( разд. [37]

Образование спекл-структуры иа изображении шероховатого объекта. [38]

Сказанное относится и к случаю прозрачных объектов, освещаемых через диффузный рассеиватель. Из-за наличия рассеи-вателя фронт волны, покидающей объект, весьма неровен и имеет исключительно сложную структуру. На изображении такого объекта мы тоже находим большие флуктуации интенсивности, обусловленные перекрыванием множества расфазиро-ванных функций размывания. [39]

Схемы получения голограмм. [40]

Голографическая схема для получения голограмм прозрачных объектов, использующая деление светового потока по волновому фронту, приведена на рис. 14, а. Часть параллельного пучка света проходит непосредственно через объект и попадает на голограмму; другая часть с помощью отклоняющей призмы образует опорный пучок. Здесь в опорный пучок введена также линза, с помощью которой опорный пучок фокусируется в некоторую область объекта, принимаемую за начало отсчета интерференционных полос. [41]

Когда хотят измерить оптическую толщину маленького прозрачного объекта интерференционным микроскопом, то стараются шире раскрыть диафрагму конденсора для лучшего обнаружения объекта и для облегчения измерений. [42]

Этот метод применим только к прозрачным объектам. Гораздо чаще строят кривые время - температура. При отсутствии превращений эти кривые идут наклонно, при любом превращении на них появляется излом или горизонтальный участок. ДТА), при к-ром нагревание ( охлаждение) исследуемого объекта ведут одновременно с нагреванием ( охлаждением) вещества-эталона, к-рое в условиях опыта не имеет превращений. ДТА осуществляют с помощью двух термопар, соединенных так, что их термоэдс при отсутствии разности т-р объекта и эталона взаимно компенсируются. На графике записывают кривую время - разность т-р объекта и эталона. Пик на кривой ДТА появляется при любом превращении исследуемого объекта. [43]

Этот метод применим только к прозрачным объектам. При отсутствии превращений эти кривые идут наклонно, при любом превращении па них появляется излом или горизонтальный участок. ДТА), при к-ром нагревание ( охлаждение) исследуемого объекта ведут одновременно с нагреванием ( охлаждением) вещества-эталона, - к - pde в условиях опыта не имеет превращений. ДТА осуществляют с помощью двух термопар, соединенных так, что их термоэдс при отсутствии разности т-р объекта и эталона взаимно компенсируются. На графике записывают кривую премя - разность т-р объекта и эталона. Пик на кривой ДТА появляется при любом превращении исследуемого объекта. [44]

При прохождении остронаправленного лазерного пучка через прозрачный объект рассеивание света изменяет пространственное распределение интенсивности. Регистрация угловой зависимости интенсивности рассеянного света ( метод нефелометрии) позволяет определять размеры частиц среды ( от 0 02 до 300 мкм) и степень их деформации. [45]

Страницы: 1 2 3 4