Локализованный объем - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
"Имидж - ничто, жажда - все!" - оправдывался Братец Иванушка, нервно цокая копытцем. Законы Мерфи (еще...)

Локализованный объем

Cтраница 2


Высоковольтные разряды были заменены высокочастотными разрядами, которые оказались достаточно эффективными для создания в локализованном объеме воздуха плазмоида, обладающего высокой интенсивностью свечения и относительно высокой температурой. Такая техника, пример которой [829] иллюстрируется на рис. 5.39, стала распространенной в первые годы развития исследований по управляемому термоядерному синтезу.  [16]

Процессы нагревания и охлаждения становятся несимметричными. При этом теплостойкость прибора определяется не интегральной температурой структуры, а температурой горячей точки - локализованного объема выделения энергии в структуре полупроводникового прибора. Тепловая модель в этом режиме усложняется и содержит для прибора 4 - 5 RC-звеньев.  [17]

Главная задача механики разрушения заключается в том, чтобы, зная распределение напряжений / а также размеры и расположение первоначальных дефектов типа трещин, предсказать разрушающее напряжение для деталей по заранее известным значениям прочности небольших образцов с острыми надрезами из того же материала. Новые методы предполагают, что рассматриваемые материалы настолько хрупки, что разрушение детали или образца происходит при их упругой работе, a fпластическая деформация возникает только в локализованных объемах вблизи вершины трещины. Поэтому новые методы, более полно описывающие наблюдаемые типы разрушения, разрабатываются в связи с необходимостью более обоснованного выбора и эффективного использования конструкционных материалов. К такому типу материалов, склонных к хрупкому разрушению при низких напряжениях, относятся стекла, хрупкие пластики и высокопрочные стали и сплавы, что подтверждается проведенными лабораторными испытаниями. Хрупкое разрушение таких пластичных материалов, как низкоуглеродистая сталь, также может быть получено в случае, если температура испытаний достаточно низка, а в испытуемых крупномасштабных пластинах имелись трещины длиной несколько сотен миллиметров.  [18]

На рис. 7 - 5 а показан термистор типа ЛЩТ-4. Другие термисторы имеют форму шайб, бусинок, пленок. Отличительное свойство термисто-ров - их малые размеры, которые дают возможность измерять температуру в узко локализованных объемах, в частности внутри обмоток электрических машин.  [19]

Нагретый в процессе деформации до 780 - 880 С поверхностный слой гравюры штампа стремится расшириться в условиях стесненной деформации и испытывает напряжения сжатия. Более глубокий и менее нагретый слой испытывает напряжения растяжения. Такие же напряжения возникают при охлаждении, если при нагреве поверхностный слой подвергся пластической деформации сжатия. В процессе эксплуатации в локализованных объемах штампа постепенно накапливается пластическая деформация. Разрушение, как правило, наступает после достижения материалом штампа некоторой критической деформации. С уменьшением амплитуды упругопластической деформации стойкость штампа увеличивается.  [20]

То есть, бит, бывший О у родителя, становится 1 у ребенка, и наоборот. Мутация помогает сохранить разнообразие в популяции. Вероятность мутации обычно должна быть невелика ( 0 001), иначе алгоритм вырождается в случайный поиск. Однако по мере приближения алгоритма к оптимальному варианту, мутация приобретает все большее значение, ибо кроссовер не может сохранить генетическое разнообразие в столь локализованном объеме ( п 1) - мерного пространства.  [21]

Полученные результаты учитывали одномерные тепловые процессы в структуре полупроводникового ключа, т.е. предполагалось, что максимальная температура структуры действует на всей площади перехода. Это, как правило, справедливо при относительно больших длительностях протекающего тока, когда полупроводниковая структура прибора успевает полностью включиться. Рекомендуется использовать представленное в справочных данных переходное тепловое сопротивление для тепловых расчетов в интервалах времени 10 мкс. В диапазоне единиц микросекунд в структуре полупроводникового ключа протекают неодномерные процессы, приводящие к локализации энергетических потерь и образованию так называемых горячих пятен. Основные причины эффектов локализации были рассмотрены во второй главе, где представлены базовые структуры силовых ключей. Учет влияния процессов локализации сводится к усложнению тепловой модели ключа. Для оценки локального распределения температуры в структуре ключа используют сложные уравнения математической физики с применением численный методов расчета на ЭВМ. После определения изменения температуры локального объема решают обратную задачу: восстанавливают параметры многозвенной RC-модели для заданного распределения температуры. Полученная таким образом электротепловая модель учитывает теплоемкость и постоянную времени локализованного объема и используется далее для расчета предельных режимов в микросекундном временном диапазоне.  [22]



Страницы:      1    2