Диаметр - пучок
Cтраница 1
 |
Скорость электронов в зависимости от.| Электронный прожектор с электростатическим отклонением.| Расходящиеся отклоняющие пластины. [1] |
Диаметр пучка определяет минимальное расстояние между передними краями пластин. Нужно учесть также расширение пучка при прохождении его между пластинами. [2]
Диаметр пучка и фаза изменяются в процессе распространения луча. [3]
Диаметр пучка по мере распространения в среде постепенно уменьшается так, как если бы на его пути находилась фокусирующая линза. Этот нелинейный эффект называется самофо - 11.6 кусировкой. [4]
Диаметр высокочастотного пучка d предполагается здесь малым по сравнению с длиной низкочастотной волны. [5]
 |
Фокусировка лазерного излучения с помощью линзы. [6] |
Если диаметр пучка связать с размерами этих пятен, то оказывается, что расходимость луча хорошо согласуется с расчетной величиной. [7]
 |
Направление магнитных силовых линий, определяемое по правилу натянутой резиновой ленты. Знак. [8] |
Поскольку диаметр пучка увеличивается по мере приближения потенциала смещения на управляющем электроде к нулю, то желательно ограничить это увеличение. Размер и положение отверстия выбирают так, чтобы получить хороший компромисс между поглощением большей части тока пучка и достижением малых размеров пятна. Там, где это практически возможно, целесообразно делать ограничивающее отверстие в том электроде, где эффект изменения тока пучка в зависимости от величины смещения некритичен. [9]
 |
Пример конструкции устройства для устранения паразитной интерференционной структуры методом пространственной фильтрации. [10] |
Если положим диаметр пучка D 1 мм, то для длины волны А, 0 633 мкм получим диаметр гауссова пучка в фокальной плоскости приблизительно d0; 1 мкм. [11]
Таким образом, диаметр пучка определяется в основном диаметром анодной диафрагмы. Наружная поверхность анодной диафрагмы является первым эмиттером вторично-электронного умножителя. [12]
За счет уменьшения диаметра пучка и повышения чувствительности детекторов удается добиться пространственного разрешения порядка 0 5 нм с пределом детекции около 100 атомов. Это открывает новые перспективы анализа сегрегации на межкристаллитных границах в нано-материалах. [13]
Так, при диаметре пучка 0 3 мкм и толщине резиста 0 1 - 0 2 мкм были получены линии шириной 0 4 - 0 5 мкм. [14]
С увеличением анодного напряжения диаметр пучка электронов уменьшается до тех пор, пока напряжение не достигнет некоторой сравнительно небольшой величины. При уменьшении тока в электронном пучке уменьшаются силы взаимного отталкивания электронов, что позволяет получить электронный пучок с большей плотностью тока. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5