Cтраница 2
В основе методов количественного анализа лежит зависимость интенсивности спектральных линий от концентрации атомов в плазме разряда. Для проведения количественного анализа выбирают две спектральные линии - линию основы и линию примеси. [16]
Физическую основу определения концентрации примеси составляет зависимость интенсивности спектральных линий от количества загрязнения. Эта связь имеет линейный характер, если небольшое изменение концентрации не приводит к смещению теплового равновесия между электронами и ионами. Подобное положение всегда существует в изотермической плазме, в неизотермической же дело обстоит иначе. При обсуждении данного вопроса необходимо подробно рассмотреть соотношение величин потенциалов ионизации основного и примесного компонентов. С увеличением концентрации микрокомпонента снижается электронная температура, потому что одновременно возрастает число неупругих столкновений электронов с примесными атомами. Это увеличение и абсолютно, и относительно. Оно абсолютно по отношению к совокупности всех неупругих столкновений, происходящих при малых концентрациях примеси, и относительно из-за уменьшения числа столкновений с участием атомов основного газа. Следовательно, интенсивность света возрастает быстрее, чем увеличивается концентрация загрязнения. [17]
Для выполнения количественного спектрального анализа предварительно находят зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации определяемой примеси по эталонам. Пользуясь эталонами, измеряют отношение интенсивностей аналитических спектральных линий при разных концентрациях определяемого элемента. По полученным данным визуальной оценки интенсивностей спектральных линий строят градуировочный график, откладывая по оси абсцисс логарифм концентрации элемента в эталонах, а по оси ординат - логарифм относительной интенсивности спектральных линий аналитической пары. По полученному градуировочному графику определяют содержание элементов в пробах. [18]
Должен знать: условия возбуждения спектральных линий; зависимость интенсивности спектральных линий от концентрации определяемого элемента; источники света; основные характеристики спектральных призменных и дифракционных приборов; характеристику кривой фотоэмульсии; анализ растворов и сплавов; сущность методов анализа чистых веществ; устройство и электрическую схему генераторов. [19]
Должен знать: условия возбуждения спектральных линий; зависимость интенсивности спектральных линий от концентрации определяемого элемента; источники света; основные характеристики спектральных призменных и дифракционных приборов; характеристику кривой фотоэмульсии; анализ растворов и сплавов; сущность методов анализа чистых веществ; устройство и электрическую схему генераторов. [20]
Для выполнения количественного спектрального анализа необходимо предварительно найти зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации искомой примеси по эталонам, то есть по образцам с хорошо известным химическим составом, подтверждаемым свидетельством. Пользуясь эталонами, измеряют отношения ннтенсивностей аналитических спектральных линий при различных содержаниях искомой примеси п по полученным данным строят градуировочный график, откладывая по оси абсцисс логарифм концентрации, а но оси ординат - логарифм относительной интенсивности спектральных линий. Посредством такого градуировочного графика можно определять неизвестные концентрации искомого элемента в пробах, измеряя в их спектрах отношение интенсивностей аналитических линий. Само собой разумеется, что для построения линейного графика требуется наименьшее количество эталонов, а это является лишним доводом в пользу применения нормальных параметров. [21]
Количественные методы определения массовой доли элементов в исследуемой пробе основаны на зависимости интенсивности спектральных линий от концентрации атомов этих элементов в пробе. [22]
Автором настоящей статьи в 1960 г. [23] была предложена методика расчета зависимости интенсивности спектральной линии от состава, основанная на учете глубины проникновения электронов в анод, поглощения характеристического излучения и флуоресцентного селективного возбуждения. Для характеристики этих процессов были использованы экспериментальные данные, полученные при анализе эталонных образцов. [23]
Таким образом, все сделанные выше ( см. 4.1.1 и 4.1.2) заключения о зависимости интенсивности спектральной линии от параметров и состава плазмы остаются в силе и для интегральной интенсивности, регистрируемой экспериментально, с той лишь разницей, что параметры плазмы реального дугового источника характеризуются соответствующими эффективными значениями ГЭф, пе. [24]
Так как самопоглощение, как и самообращение, тем больше, чем больше концентрация атомов в разряде, то, изучая зависимость интенсивности спектральных линий какого-либо элемента от его содержания, можно видеть, что интенсивность не увеличивается линейно. Начиная с какого-то содержания элемента, увеличение интенсивности замедляется, затем прекращается. Это происходит из-за того, что энергия, излучаемая центральной горячей частью разряда, поглощается в наружных, более холодных его частях. [25]
Количественный спектральный анализ основан на том, что интенсивность спектральных линий элемента зависит от концентрации этого элемента в пробе. Зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации имеет сложный характер. [26]
Наличие зависимости интенсивности спектральных линий от концентрации атомов в плазме разряда ( кривая роста) указывает на возможность проведения количественного анализа. Однако необходимо учитывать целый ряд явлений, искажающих эту зависимость и нарушающих правильность количественного определения. [27]
Особо важное значение имеег этот вопрос при количественном анализе растворов и минералов на присутствие какой-нибудь составной части, если остальные его составные части изменяются. Необходимо различать между зависимостью интенсивности спектральной линии элемента Е от состава вещества при равном количестве этого элемента и отношением интенсивностей двух спектральных линий элементов Е и Z. [28]
Для спектрального анализа большое значение имеет зависимость интенсивности спектральной линии от состава анализируемого вещества. [29]
С другой стороны, аналитика интересует концентрация элемента в исследуемой пробе, а не в плазме. Поэтому очень важно знать, какова зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации С элемента в конкретной пробе. Концентрация Nn в первом приближении пропорциональна концентрации невозбужденных атомов определяемого элемента, содержащихся в плазме. Но последняя определяется его концентрацией в пробе и совокупностью всех физико-химических характеристик пробы и процессов, протекающих в источнике света и исследуемом образце. [30]