Зависимость - интенсивность - отказ
Cтраница 1
Зависимость интенсивности отказов от времени полученная при этих испытаниях, показана на рис. 30, а. Кривая / получена для конденсаторов с диэлектриком 10 мкм ( 630) при ширине обкладки 15 мм и температуре 70 С; кривая 2 получена для конденсаторов с диэлектриком 15 и 30 мкм при 85 С и ширине обкладки 25 мм; кривая 3 - то же, но при обкладке 15 мм. Эти данные показывают, что увеличение ширины обкладки полистироль-ного конденсатора снижает его надежность. [2]
Зависимость интенсивности отказов от времени для каждого конкретного оборудования имеет свой вид. [3]
Зависимость интенсивности отказов от времени показана на рис. 6.4. Выделяют три участка: I - период приработки аппаратуры; II - период нормальной эксплуатации, характеризуемый постоянством значения; III - период эксплуатации, характеризуемый значительным увеличением интенсивности отказов за счет износа и старения элементов. [4]
Зависимость интенсивности отказов K ( t) от времени показана на рис. 1.5. На начальном участке / наблюдается повышенная интенсивность отказов, связанная с проявлением скрытых производственных дефектов. Отрезок времени, соответствующий этому участку характеристики, называют периодом приработки. На участке / / интенсивность отказов более или менее постоянна. [5]
Зависимость интенсивности отказов диодов и транзисторов от времени при постоянной нагрузке или неизменных внешних условиях обычно имеет вид, аналогичный тому, что приведен на рис. 4 - 2 а, б, в для некоторых типов приборов. Характерным является существенное уменьшение интенсивности отказов за первые несколько сотен ( или даже тысяч) часов работы. [6]
Зависимость интенсивности отказов конденсаторов от напряжения определяется [9] коэффициентом нагрузки, равным отношению рабочего напряжения, приложенного к конденсатору, к номинальному. Срок службы конденсаторов с понижением коэффициента загрузки резко возрастает. [7]
Согласно зависимости интенсивности отказов от Xta ( рис. 4.10) система с комбинированным резервом времени является стареющей, как и кумулятивная система. Не увеличение интенсивности отказов в ней происходит медленнее. [9]
Необходимы зависимости интенсивностей отказов элементов от уроЕ - ня нагрузки на них. [10]
Графики зависимости интенсивности отказов типовых элементов от их нагрузки и температуры показывают, что интенсивности отказов элементов в зависимости от режима работы могут изменяться в очень широких пределах и что облегчением режимов работы элементов можно существенно увеличить надежность системы. [11]
Для определения зависимостей интенсивности отказов и характера из менения параметров от режима и условий испытаний приходится подвергать испытаниям большое количество приборов, обычно разных технологических партий, изготовленных в различное время. Может оказаться, что из-за различия свойств приборов разных партий ( вследствие разброса параметров технологических факторов) искомые нами зависимости будут искажены. Кроме того, искажение результатов и рассеяние измеряемых величия могут произойти вследствие наличия в испытуемой партии потенциально ненадежных приборов со скрытыми дефектами. Например, пусть проводятся ускоренные испытания двух партий приборов, из которых одна подвергается меньшей нагрузке, а другая большей. Если случайно окажется, что в первой партии будет несколько приборов со скрытыми дефектами, а во второй их нет, то по результатам испытаний можно сделать ошибочный вывод: при большой нагрузке отказов меньше, чем при малой. Количественные характеристики надежности, полученные по результатам испытаний одной партии приборов или небольшого их количества, нельзя без дополнительного анализа обобщать и распространять на всю массу приборов. [12]
Типовая характеристика зависимости интенсивности отказов Я, ( t) от времени работы электронных изделий изображена на рис. I. [13]
Учитывая характер зависимости интенсивности отказов приборов от времени, продолжительность испытаний, проводимых с целью контроля соответствия приборов требованиям ТУ по надежности, выбирается небольшой. [14]
 |
Прогнозирующая прямая для оценки надежности тиристоров ВКДУ-150 при тепловых испытаниях. [15] |
Страницы: 1 2 3 4 5