Cтраница 2
ПЛОТНАЯ УПАКОВКА атомов и молекул, способ модельного описания кристаллич. В); в итоге каждый шар имеет коорди-нац. ПШУ, перпендикулярный плоскости слоя, наз. В ПШК шары располагаются менее компактно и имеют более низкие координац. [16]
В данном разделе показано, что точность модельного описания кластеров в области малых размеров может быть существенно повышена по сравнению с классической теорией путем введения двух параметров ( константы равновесия димера и координационного числа в жидкости) дополнительно к тем, которые уже имеются в классической теории. В описанной ниже модели предполагается, что поверхностная энергия кластера пропорциональна числу молекул на поверхности кластера, а не площади его поверхности, как в классической теории. Коэффициенты пропорциональности могут быть выражены через микро - и макроскопические параметры с использованием термодинамических соотношений. При этом поверхностное натяжение, очевидно, не имеющее смысла для малых кластеров, возникает только в пределе больших размеров. Тем самым область применимости капельной модели может быть расширена в область малых размеров вплоть до димеров, что позволяет найти равновесное распределение кластеров по размерам и вычислить скорость нуклеации для различных веществ в широком диапазоне параметров состояния. Найденное распределение позволяет попутно получить ряд практически важных результатов: соотношение между поверхностным натяжением, константой равновесия димера и давлением насыщения, размерную поправку к коэффициенту поверхностного натяжения в формуле Френкеля, а также уравнение состояния пара умеренной плотности, не содержащее подгоночных параметров. [17]
Проведены расчеты функции С р ] для разных модельных описаний микрогеометрии поверхности, которые показали, что с ростом номинального давления величина дополнительной податливости контакта dC / dp, связанная с наличием микрорельефа, постепенно уменьшается и стремится к нулю при переходе от дискретного контакта к непрерывному. [18]
Приведенные выше два типа источников излучения использовались для модельного описания шаровой молнии как источника света, При этом для первого случая расчеты [292, 293] проводились с использованием в качестве излучающего элемента параметров натрия, а во втором случае [304] - параметров пламени свечи. [19]
Любая научная дисциплина всегда имеет дело только с приближенным, модельным описанием. [20]
Приведенные в задачах 1.270 и 1.271 потенциалы нередко используются для модельного описания взаимодействия атомов в двухатомных молекулах. При этом глубина потенциальной ямы D и частота колебаний со0 находятся из экспериментальных данных об энергии диссоциации и колебательном спектре излучения молекулы. [21]
Функция С р может быть построена также, исходя из модельных описаний взаимодействия шероховатых поверхностей. [22]
Согласно чисто эмпирическому правилу, хаотические режимы, порождаемые при модельном описании обыкновенными дифференциальными уравнениями ( как, например, в химических реакторах с хорошим перемешиванием), склонны к низкому порядку ( самое большое п - 2, если п - число переменных), тогда как режимы, порождаемые дифференциальными уравнениями в частных производных ( трубка тлеющего разряда, или неоновая трубка, соединенная с затемнителем, или химический осциллятор без перемешивания), стремятся к очень высокому порядку. Использование отображения последовательных амплитуд [4] может послужить простым средством для решения вопроса, является ли аттрактор сильно притягивающим. [23]
Близость в указанном смысле принято называть адекватностью; и в отношении корректности декомпозиции модельного описания с точки зрения целей управления. Этот аспект определяет схему разбиения описания объекта на локальные модели типа черного ящика, которые затем уже не декомпозируются, оставаясь элементами. Все элементы иерархического дерева моделей должны быть адекватны соответствующим объектам-прототипам. Совпадение в указанных выше смыслах называется аутентичностью. [24]
Непрерывно повышающиеся требования к точности измерения и контроля, а следовательно, к точности модельного описания и анализа соответствующих систем делают необходимым детальное изучение динамики именно подсистем с распределенными параметрами. В связи с этим, в данной книге указанным моделям подсистем ИСК уделяется значительное внимание, пожалуй, даже больше, чем подсистемам с сосредоточенными параметрами. [25]
Возникающая в методе ПС квантовохимическая задача расчета сольватационных взаимодействий реагентов и АК требует того или иного модельного описания растворителя и будет обсуждаться в следующей главе. [26]
При этом каждая из составляющих подсистем, в свою очередь, является системой ( обладает структурой) и, следовательно, модельному описанию исследуемой исходной системы должна предшествовать процедура, аналогичная анализу - структуризация. [27]
Отличительная особенность проведенных авторами исследований заключается в предложенном феноменологическом подходе к построению теории турбулентности реагирующих газов для определенного класса задач и развитых методах модельного описания турбулизованных смесей с единых позиций механики многокомпонентных сред. Основная направленность этих исследований непосредственно связана с решением ряда сложных аэрономических проблем, включающих в себя вопросы формирования и эволюции планетных атмосфер. Вместе с тем, полученные результаты не ограничиваются аэрономическими приложениями. Они имеют непосредственное отношение к моделированию механизмов, формирующих свойства астрофизических объектов на разных стадиях их эволюции, исследованию проблем звездной и планетной космогонии, включая образование протопланетных дисков и последующую аккумуляцию планетных систем, а также к привлекающим все большее внимание проблемам экологии, связанных с диффузией загрязнений и охраной окружающей среды. [28]
Иными словами, приведенные широко распространенные постановки задач параметрической оптимизации, на наш взгляд, не всегда могут отразить представления пользователя о хорошем совпадении модельного описания и реального объекта. [29]
Покажем, что при сделанном предположении величина / 3 ( х у ], которую мы будем называть дополнительным смещением, может быть представлена как функция номинального давления С [ р ], и определим вид этой функции для некоторых модельных описаний микрогеометрии поверхности. [30]