Зависимость - параметр - решетка
Cтраница 2
На рис. 617 и 618 приведена зависимость параметра решетки от состава U02 - Zr02 и термообработки. [16]
 |
Диаграмма состояния системы ThO2 - U02.| Параметр кристаллической решетки твердых растворов в системе Th02 - U02. [17] |
Ими также построена диаграмма ( рис. 622) зависимости параметра решетки этих твердых растворов от состава. [18]
В интервале температур от комнатной до 400 методом обратной рентгеновской съемки исследована зависимость параметров решетки соединений CuInTea, CuaSnSea и сплавов квазибинарных систем Cii2Te - InjTea, CujSe - SnSe2 и Sn-CujSej от температуры. Коэффициент линейного расширения исследованных тройных соединений растет с повышением температуры. [19]
 |
Участки дифрактограммы YBa2Cu307 - i /, записанные при различных температурах ( Со Са-излучение. [20] |
Участки дифрактограммы, записанные при выборочных температурах, приведены на рис. 1, зависимость параметров решетки от температуры изображена на рис. 2, величины параметров сведены в таблицу. [21]
Данные о составе частиц можно получить также методом дифракции рентгеновских лучей, в основу которого положена зависимость параметра решетки, а следовательно, и углов отражения от состава. [22]
Отражательная решетка применяется для отражения ПАВ под углом 90 по аналогии с фильтром сжатия; при этом зависимость параметров решетки от частоты обеспечивает требуемую частотную избирательность. Резонаторы на ПАВ также строят из двух отражательных решеток, каждая из которых отражает волны на 180, в результате чего образуется резонансный объем. Этот принцип интенсивно изучался в связи с созданием узкополосных фильтров [274], характеризуемых высокой добротностью и существенно меньшей длиной по сравнению с устройством на ВШП. Резонаторы будут рассмотрены в гл. [23]
Рассмотрены две рентгенографические методики, которые могут быть использованы для раздельного определения температуры активного компонента и носителя в условиях реакции: из зависимости амплитуды тепловых колебаний от температуры и из зависимости параметров решетки от температуры. При использовании первой методики выявлено возможное влияние резмерного эффекта на значение характеристической температуры активного компонента. На примере Ni-катализаторов экспериментально показано влияние размера частиц ( 50 - 500А) на величину характеристической температуры, что необходимо учитывать при определении реальной температуры функционирующего катализатора этим методом. Проведено экспериментальное раздельное определение температуры активного компонента и носителя на Ni / MgO катализаторе в условиях экзотермической реакции синтеза метана из СО и водорода методом рентгенографии in situ. Показано аномальное поведение параметра решетки нике-ля ( активного компонента) в области температур образования метана по сравнению с нормальным ( линейным) изменением параметра решетки М § О ( носителя) с повышением температуры. В соответствии с максимальной величиной параметра решетки никеля в области температур образования метана величина перегрева ДТ может достигать-200 - 250 С. Масштаб возможного перегрева, полученный экспериментально, и рассчитанный термодинамически одного порядка. [24]
В этом случае [43] в ( 3 73) можно ограничиться областью малых / с и найти смещения U на больших расстояниях от точечного дефекта, поле смещений вокруг которого характеризуется известными значениями модулей упругости и зависимостью параметров решетки от концентрации дефектов. [25]
При меньшем содержании окиси неодима флюоритный твердый раствор сосуществует с закисью-окисью урана, а при составах, содержащих более 65 % NdsO3, переходит в структуру С-типа окислов редких земель - Флюоритному твердому раствору ( см. рис. 5.16, б) соответствует прямая 1, определяющая зависимость параметра решетки твердого раствора от состава. Образцы этих составов дают четкие рентгенограммы с хорошо расщепившимися на си-2 - дублеты линиями. Переход к структуре С-типа наблюдается в составе, содержащем 74 9 % NdOi 5 и дающем завуалированную рентгенограмму с нерасщепленными линиями. [26]
Второй метод - рентгенографический; в табл. 6.3 в левой колонке приведены составы, определенные по точкам перелома линий параметра при переходе из однофазной области в двухфазную ( см. рис. 6.3, г - з), а в правой колонке - по точкам пересечения параметров решетки обеих тетрагональных фаз ( в состоянии равновесия при данной температуре) с показанной на рис. 6.3, в зависимостью параметра решетки от состава для образцов, закаленных от 2100 С. Сопоставление результатов работ [37-41] позволяет охарактеризовать фазовые отношения в системе UO2 - ZrO2 следующими особенностями. [27]
Легирование приводит к изменению параметра кристаллической решетки и сил межатомного взаимодействия. Так как зависимость параметра решетки растворителя от концентрации легирующего элемента практически линейная, зависимость модуля упругости от содержания легирующего элемента также близка к линейной. [28]
В этой же таблице приведены данные для системы U3O8 - Eu2O3 [76], получение образцов и методика исследования которой практически не отличались от описанных выше. На рис. 5.16 показаны зависимости параметра решетки флюоритных фаз, образующихся в системах, от состава. [29]
Пользуясь данными работы [3], где рассматривается зависимость параметров решетки a - раствора Ti от концентрации кислорода в нем, видно, что среднее содержание кислорода в верхнем слое приблизительно равно 28 % атомн. [30]
Страницы: 1 2 3