Зависимость - спектральная плотность - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Почему неправильный номер никогда не бывает занят? Законы Мерфи (еще...)

Зависимость - спектральная плотность

Cтраница 2


ТШПМИ, основанная на зависимости спектральной плотности энергии излучения L ( Т) черного тела от температуры Т в микроволновом диапазоне излучения, устанавливается для диапазона температур от 6300 до 100 000 К.  [16]

Формула Планка (1.42), описывающая зависимость спектральной плотности теплового излучения рш от частоты ш, находится в прекрасном согласии с экспериментом ( см. фиг.  [17]

На рис. 129 дана кривая зависимости спектральной плотности энергетической светимости абсолютно черного тела г от длины волны А при некоторой температуре. К какой температуре Т относится эта кривая. Какой процент излучаемой энергии приходится на долю видимого спектра при этой температуре.  [18]

На рис. 64 дана кривая зависимости спектральной плотности энергетической светимости абсолютно черного тела / от длины волны К при некоторой температуре. К какой температуре Т относится эта кривая.  [19]

Методы измерения высоких температур, использующие зависимость спектральной плотности энергетической светимости или интегральной энерггтмчггкой светимости тел от температуры, насыплются оптической пирометрией. Приборы для измерения температуры нагретых тел по интенсивности их теплового излучения в оптическом диапазоне спектра называются пирометрами. В зависимости от того, какой закон теплового излучения используется при измерении температуры тел, различают радиационную, цветовую и яр-костную температуры.  [20]

Методы измерения высоких температур, использующие зависимость спектральной плотности энергетической светимости или интегральной энергетической светимости тел от температуры, называются оптической пирометрией. Приборы для измерения температуры нагретых тел по интенсивности их теплового излучения в оптическом диапазоне спектра называются пирометрами. В зависимости от того, какой закон теплового излучения используется при измерении температуры тел, различают радиационную, цветовую и иркостную температуры.  [21]

22 Блок-схема пирометра. [22]

Для квазимонохроматических пирометров характерна одна единственная Яэ, при которой зависимости спектральной плотности излучения или яркости от температуры для черного тела изменяются так же, как и аналогичные зависимости указанных величин, измеренных пирометрами. Эффективная длина волны не зависит от температуры, если половина полосы пропускания фильтра меньше 5 нм.  [23]

24 Пределы применения промышленных средств измерения температуры. [24]

Температурная шкала пирометра микроволнового излучения ( ТШПМИ) основана на зависимости спектральной плотности энергии излучения L ( T) черного тела от температуры Т в микроволновом диапазоне излучения и установлена для диапазона от 6300 до 100 000 К.  [25]

Зависимость спектральной плотности для некоторых реальных тел показана на рис. 5.7, из которого видно, что зависимость спектральной плотности от длины волны для газов и паров, имеющих селективные свойства, наиболее сильно отличается от аналогичной зависимости для абсолютно черного тела.  [26]

27 Осциллограммы баллистической записи скачков Баркгаузена двух никелевых образцов, перемапшчйваемых одним и тем же полем. / и 0 ( д. т 2 10 ( 6 ( Нт 5 Э / 0 50 Гц, Дм - 20 Гц. [27]

Дня подтверждения возможности энергетически активационного характера возникновения магнитного шума под влиянием флуктуации внешнего поля автором этой книги была исследована зависимость спектральной плотности магнитного шума от ширины спектра модулирующего поля ДР. Опыт показал, что в исследованном диапазоне изменения Др хорошо соблюдается линейная зависимость между спектральной плотностью магнитного шума g ( f) и величиной ДР.  [28]

Выше ( раздел 2 главы 16) было показано, что любая колебательная система может быть охарактеризована соответствующим ей импульсом, зависимость спектральной плотности которого от частоты совпадает с резонансной характеристикой этой системы.  [29]

Анализ волновых цугов, основанный на теореме Фурье, позволяет вычислить контур линии ( см. § 22), т.е. выяснить в каждом конкретном случае вид зависимости спектральной плотности коэффициентов Эйнштейна от частоты.  [30]



Страницы:      1    2    3