Cтраница 1
Зависимость относительной погрешности от изменения температуры, построенная по формуле (9.99), приведена на рис. ад. [1]
Зависимость относительной погрешности от сопротивления изо-мцин кабеля при выполнении условия (6.2) показана на рио. [2]
Очевидна зависимость относительной погрешности от постоянных времени ЯГ0 и TV фоторезистора. Проведенные расчеты показывают, что при включении в моотовув схему фоторезиоторов о малыми постоянными времени ЯГ0 и ЯГТ ( например, типов ФСК-П1 или СФЭ-9Б) относительная погрешность от изменения температуры вторичного прибора становится ничтожно малой. [3]
На рис. 42 представлена зависимость относительной погрешности определения оптической плотности для трех указанных выше случаев. Как видно из графиков, при равных относительных флуктуациях в величинах / 0 ошибка при измерении оптической плотности зависит не только от интервала оптической плотности, но и от того, каков характер флуктуации интенсивности. [4]
Для характеристики счетчика строят кривую погрешности счетчика, представляющую собой зависимость относительной погрешности счетчика в функции нагрузки. [5]
Развитие ряда вопросов теории и практики дифференциальной фотометрии отражено в работе [131], авторы которой установили зависимость относительной погрешности определения концентрации вещества от оптических плотностей анализируемых растворов и стандартных растворов сравнения в предположении, что стандартные отклонения определения концентрации обоих растворов одного порядка. Авторами оценены оптимальные области соотношения оптических плотностей исследуемых растворов и растворов сравнения для приборов различных типов и марок. [6]
Число МА, входящее в эту оценку, называется числом обусловленности матрицы А и характеризует степень зависимости относительной погрешности решения от относительной погрешности правой части. Матрицы с большим числом обусловленности МА называются плохо обусловленными матрицами. [7]
![]() |
Относительная погрешность оценки математического ожидания измеряемой величины. [8] |
На рис. 3 - 5 приведены построенные по формулам ( 3 - 35), ( 3 - 36) зависимости относительной погрешности от искомых параметров эксперимента: длины реализации и частоты съема данных. Эти кривые, так же как и формулы ( 3 - 35) и ( 3 - 36), могут использоваться для определения искомых параметров опыта по заданному относительному значению погрешности опенки математического ожидания. [9]
Для каждого частного случая зависимости F, выполняя дифференцирование в правой части, заменяя дифференциалы dX, dX2, dXn соответствующими значениями абсолютных погрешностей прямых измерений, получим зависимость относительной погрешности косвенного измерения от относительных погрешностей прямых измерений. [10]
U следует подставить новое значение напряжения U питания измерительной схемы. Зависимость относительной погрешности от изменения U приведена на рио. Следует заметить, что уменьшение напряжения питания вызывает значительно большую погрешность, чем увеличение ( J относительно номинального. [11]
В отличие от Ат погрешности Ай и Аа различны для координат Я и L. На рис. 5.21, а изображены зависимости относительной погрешности АсН от угла ввода колебаний а10 при различных значениях относительного отклонения ct / cto скорости сдвиговой волны. [13]
![]() |
Изменение напряжения и - и определение выдержки времени / ср. [14] |
На рис. 11 - 30 представлены зависимости относительных погрешностей ДМср выдержек времени от относительного отклонения AU / U напряжения питания. Кривые построены для значений / СР 0 5 U и 1 / ср 0 7 U при постоянных R и С. [15]