Определение - коэффициент - отражение
Cтраница 1
 |
Оптическая схема фотометра ФМШ-Б6М. [1] |
Определение коэффициента отражения абсолютным методом осуществляется по системе Тейлора. Пучок света направляется на исследуемый образец. Световой поток, отраженный образцом и претерпевший многократное отражение от внутренней поверхности шара, создает на фотоэлементе освещенность, пропорциональную коэффициенту отражения образца. [2]
Для определения коэффициентов отражения и пропускания элементарного слоя во вспомогательной системе ( см. рис. 4.1) задается собственное излучение с плотностью qb на а. [3]
Для определения коэффициента отражения был использован экран из спрессованного порошка окиси магния, отражательная способность которого для всех длин волн принималась за единицу. Во всех случаях изучаемый, образец или экран из окиси магния помещался перед щелью спектрографа или монохроматора в плоскости, нормальной к оптической оси коллиматора. [4]
Для определения коэффициента отражения от плоского слоя нужно найти связь между амплитудами отраженной и падающей волн. [5]
 |
Частотные зависимости коэффициентов отражения от правой границы системы для различных плазменных частот. [6] |
Для определения коэффициентов отражения плазменной волны по R от границы z L разработаны специальные численные методы [60], основанные либо на прямом решении стационарной дифракционной задачи, либо на определении времени вытекания СВЧ-поля из плазменного резонатора. [7]
Для определения коэффициента отражения исследуемой поверхности в настоящей работе применен следующий косвенный метод. Свет от некоторого источника, пройдя светофильтр и отразившись от исследуемой поверхности, подается на фотоэлемент. [8]
Общий метод определения коэффициентов отражения, который годится как для одного слоя на подложке, так и для МИС, состоит в использовании рекуррентных соотношений, вытекающих из условий непрерывности тангенциальных компонент электромагнитного поля на каждой из границ раздела. [9]
Дешан Ж - Определение коэффициента отражения и вносимых потерь волноводного соединения. [10]
Таким образом, изложенный метод определения коэффициентов отражения и прохождения удобен для численных расчетов и может быть использован для любого числа слоев. Однако на практике наиболее часто встречаются системы, состоящие из одного, двух и трех слоев. [11]
Метод, описанный Дешаном, для определения коэффициента отражения и затухания закрытого волноводного соединения [9] применим и к полосковой линии, пока основной поток мощности ограничивается одним основным видом колебаний. [12]
Таким образом, задача сводится к определению коэффициентов отражения, соответствующих зеркальной и диффузной долям отраженной энергии. Выше было показано, что оба эти параметра зависят от большого числа факторов. [13]
Необходимо отдельно остановиться на различии между определением коэффициента отражения, которое мы дали здесь, и тем, которое было дано в разд. [14]
 |
Схема фотометра компенсационного типа.| S. Схема фотометра, работающего. [15] |
Страницы: 1 2 3