Определение - параметр - элементарная ячейка
Cтраница 1
Определение параметра элементарной ячейки ( а 5 67 А), проведенное в 1924 г., вероятно, ошибочно. Это сомнение тем более оправдано, что все остальные результаты этой работы были впоследствии опровергнуты. [1]
Определив вещество и его модификацию, приступают к определению параметров элементарной ячейки, что является самостоятельной задачей. [2]
Рассматриваются качественный и количественный фазовый анализ, идентификация веществ, определение параметров элементарных ячеек и стехиометрического состава соединений. Большое внимание уделено применению метода порошкя для решения структурных задач, проверке моделей кристаллических структур. Показано влияние дефектов структуры и размеров кристаллитов на дифракционную картину, а также возможность изучения некристаллических тел. [3]
Структурная электронография, подобно рентгенографии и нейтронографии, включает методику определения параметров элементарной ячейки пространственной решетки ( периодов идентичности и углов) из геометрии электронограммы и определение атомной структуры кристаллов из распределения интенсивности рассеянного излучения в обратном пространстве. Различие методов не отражается на основных чертах математик, аппарата теории дифракции, конкретизация же расчетных формул достигается специфичным для каждого из излучений ходом кривых атомного рассеяния. Характер хода / - кривых и их зависимость от Z отражают распределение рассеивающей материи в атомах и различную обнаруживаемом их при проведении структурного исследования тем или иным методом. [4]
 |
Углы гониометра дифрактометра. [5] |
В конечном счете можно воспользоваться этим методом, поскольку он наиболее удобен для определения параметров элементарной ячейки и их погрешностей. [6]
Если тип кристаллической решетки не известен, то электронограмма единичного кристалла может быть использована для определения параметров элементарной ячейки. Однако для этого необходим специальный держатель для образца, позволяющий поворачивать и наклонять образец на достаточно большие углы. Если иметь дифракционные картины рассеяния с использованием различных углов падения электронов на образец, то можно получить ряд различных сечений через обратную решетку. [7]
Хотя по сравнению со многими низкомолекулярными веществами кристаллы, которые образуют полимеры, являются сравнительно небольшими и несовершенными, все же степень их упорядочения сЧ / и размеры достаточны для определения параметров элементарной ячейки. [8]
Мочевина кристаллизуется с образованием тетрагональных кристаллов. Определение параметров элементарной ячейки и плотности показывает, что в элементарной ячейке содержатся только две молекулы. Последний вариант сразу же исключается, так как при этом молекула мочевины должна была бы иметь ось четвертого порядка или три пересекающихся оси второго порядка. [9]
Основные научные исследования относятся к области рентгенографии. Разработал ( 1935 - 1940) асимметричный метод определения параметров элементарной ячейки кристаллов, нашедший применение в лабораторной практике. [10]
Для проведения структурное анализа полимеров чаще всего используют образцы в виде волокон или пленок, которые при съемке дают текстуррентгенограммы. Применение текстуррентге-нограмм для расшифровки структуры полимеров совершенно необходимо, так как дебаеграммы полимеров содержат обычно небольшое число линий, и определение параметров элементарной ячейки, а тем более структуры кристаллита практически невыполнимо. Образцы полимеров подвергают различным видам механической и термической обработку для того, чтобы максимально облегчить образование кристаллических областей, но при этом стараются не разрушить текстуру. Обычно образцы волокон или пленок Q натянутом состоянии прогревают на воздухе или в какой-либо жидкости. [11]
Для проведения структурного анализа полимеров чаще всего используют образцы в виде волокон или пленок, которые при съемке дают текстуррентгеноераммы. Применение текстуррентге-нограмм для расшифровки структуры полимеров совершенно необходимо, так как дебаеграммы полимеров содержат обычно небольшое число линии, и определение параметров элементарной ячейки, а тем более структуры кристаллита практически невыполнимо. Образцы полимеров подвергают различным видам механической и термической обработку для того, чтобы максимально облегчить образование кристаллических областей, но при этом стараются не разрушить текстуру. Обычно образцы волокон или пленок и натянутом состоянии прогревают на воздухе или в какой-либо жидкости. [12]
Ориентация полимеров часто осуществляется методом вальцевания, который сопровождает вытяжку или предшествует ей. Вальцевание является удобным методом получения многоосно-растянутых. Последние используются для определения параметров элементарной ячейки рентгенографическим методом. В обсуждаемых здесь работах вальцевание проводили при комнатной температуре, валки поворачивали вручную, зазор между ними немного уменьшали с каждым проходом. [13]
В этой главе мы рассмотрим некоторые виды съемки монокристаллов и использование полученных результатов в рентгено-фазовом анализе. Если кристаллы исследуемого вещества принадлежат к низшим сингониям и имеют большие параметры элементарных ячеек, индицирование линий порошкограмм становится вряд ли разрешимой задачей и результаты индицирования будут неоднозначными. В этом случае необходимо использование монокристальных методов для определения параметров элементарных ячеек. [14]
Страницы: 1