Cтраница 2
Это достигается постоянным исследованием эталона в целях определения систематических погрешностей и их исключения путем введения соответствующих поправок. [16]
Под воспроизводимостью эталона понимается возможность воспроизведения единицы физической величины ( на основе ее теоретического определения) с наименьшей погрешностью для данного уровня развития измерительной техники. Это достигается путем постоянного исследования эталона в целях определения систематических погрешностей и их исключения путем введения соответствующих поправок. [17]
Это достигается путем постоянного исследования эталона в целях определения систематических погрешностей и их исключения путем введения соответствующих поправок. [18]
В установке ЭУВ-1 имеются вспомогательные средства измерения, к которым относятся: задающий генератор, усилитель мощности, универсальный манохроматор, ртутная лампа, вольтметр. Универсальный манохроматор и ртутная ламша в совокупности выполняют роль вспомогательного монохроматического источника излучения зеленой линии ртути с длиной волны 0 5461 мкм, необходимого при определении систематических погрешностей эталона. [19]
Перед каждым измерением необходимо выявить возможные источники систематических погрешностей и принять меры к их исключению или определению; в большинстве случаев учет систематических погрешностей затруднителен. Сложность задачи исключения систематических погрешностей заключается в том, что нельзя предложить общий способ решения этой задачи. Для определения систематических погрешностей необходимо их изучить, что делается с помощью специально поставленных экспериментов. [20]
Пусть средство измерений ( прибор, преобразователь, установка) предназначено для исследования изменений электрических величин. Тогда в принципе несложно в нужный момент автоматически или вручную отключить от его входа источник исследуемой физической величины и подключить образцовую меру. После определения систематической погрешности и поправки ( таким же образом, как это делается при поверке) измеряемая величина снова подается на вход средства измерений. Беда в том, что этот простейший случай редко встречается в практике применения сложных средств, в частности, ИИС. Последние чаще служат для измерения неэлектрических величин. А отключить от входа измерительного канала такую величину, как, например, температуру невозможно. [21]
Перед каждым измерением необходимо выявить возможные источники систематических погрешностей и принять меры к их исключению или определить их величину; в большинстве случаев учесть систематические погрешности затруднительно. Сложность задачи исключения систематических погрешностей заключается в том, что нельзя предложить общий способ решения этой задачи. Для определения систематических погрешностей необходимо их изучить, что выполняют с помощью специально поставленных экспериментов. [22]
Перед каждым измерением необходимо выявить возможные источники систематических погрешностей и принять меры к их исключению или определить их величину: в большинстве случаев учесть систематические погрешности затруднительно. Сложность задачи исключения систематических погрешностей заключается в том, что нельзя предложить общий способ решения этой задачи. Для определения систематических погрешностей необходимо их изучить, что выполняют с помощью специально поставленных экспериментов. [23]
Следовательно, систематическая ошибка определения объема мала ( в предположении, что образец имеет форму цилиндра), и необходимо проверить надежность определения массы образца. Методика проверки надежности определения массы образца такая же стандартная, как и описанная выше процедура определения систематической погрешности микрометра: необходимо на тех же весах взвесить образцовые меры. Предположим, что и взвешивание не вносит систематической погрешности в результаты измерений. Можно предположить, что цилиндр имеет внутри скрытые полости ( раковины), образовавшиеся во время литья. Эту гипотезу можно проверить, либо исследовав другой образец ( появление точно таких же раковин во втором образце маловероятно, наличие же разных раковин внутри образцов можно обнаружить при сравнении весов обоих образцов), либо просветив образец рентгеном. Предположим, что просвечивание показало отсутствие полостей внутри образца. [24]
Nj и Ткр - Nj, где непосредственно наблвдается непрерывное изменение свойств системы при непрерывном изменении ее состава. Дифференциальные уравнения проекций критической кривой устанавливают только общий вед зависимости между переменными Ркр - Ткр - Nj. Проекции критической кривой конкретных бинарных систем могут быть построены только на основе экспериментальных данных, 0 величине и характере случайных погрешностей экспериментальных данных можно судить по разбросу точек на проекциях критической кривой. Определение систематических погрешностей также не вызывает затруднений. Также сведения во многих случаях отсутствуют. [25]
Систематические погрешности обусловлены ограниченной точностью прибора, неправильным выбором метода измерения, неправильной установкой прибора или недоучетом некоторых внешних факторов, например теплообмена калориметра с внешней средой при определении теплоты сгорания топлива. Таким образом, систематическая погрешность наблюдается в тех случаях, когда среднее значение последовательных отсчетов отклоняется от известного точного значения и продолжает отклоняться независимо от числа последовательных отсчетов. Пусть, например, при измерении частоты вращения электродвигателя среднее значение получилось равным 950 об / мин, а эталонное значение или значение, полученное при калибровке тахометра, 1000 об / мин. Из этих данных можно сделать вывод, что тахометр неточен, даже если при измерении был малый разброс показаний. Определение систематической погрешности может быть произведено калибровкой прибора или его поверкой. [26]