Определение - количественный показатель - надежность
Cтраница 1
Определение количественных показателей надежности всегда сопровождается некоторыми расчетами. Они проводятся и при проектировании, и при анализе результатов эксплуатации. Расчеты принято делить на две группы. К первой относятся расчеты, основанные на анализе структуры изделия и заданных условий работы. Их принято называть расчетно-аналитическими, или расчетами надежности. Ко второй - расчеты, связанные с обработкой результатов эксперимента. Они называются расчетно-экспериментальными, или обработкой опытных данных. [1]
Для определения количественных показателей надежности проводят специальные виды испытаний. Порядок их проведения и обработки статистических данных, полученных в результате испытаний, регламентируется государственными стандартами, такими, как ГОСТ 18049 - 72 Надежность в технике. [2]
Кроме определения количественных показателей надежности проводится работа по установлению уровня надежности выпускаемых приборов в сравнении с зарубежными образцами и аналогами. [3]
Для определения количественных показателей надежности полупроводниковых приборов после проведенных испытаний на срок службы необходимо знать параметры-критерии годности. [4]
Исходными данными для определения количественных показателей надежности являются сведения об отказе изделия, условиях и причинах его возникновения, продолжительности, трудоемкости и стоимости устранения. [5]
Методика расчета может быть использована для определения количественных показателей надежности, например, при прогнозировании на стадиях эскизного и технического проектирования, при расчете ЗИП, а также при организации технического обслуживания ЭВМ. [6]
Прежде всего следует подчеркнуть то обстоятельство, что определение количественных показателей надежности электронных приборов, в отличие от аппаратуры, возможно только путем испытаний или по данным работы в условиях эксплуатации, В настоящее время нет таких методов, которые позволили бы определять показатели надежности электронных приборов расчетным путем. [7]
 |
Изменение прямого и обратного тока кремниевых выпрямительных диодов в зависимости от. [8] |
Поэтому изготовителями ППП проводятся специальные испытания для оценки соответствия приборов требованиям технических условий по надежности и определения количественных показателей надежности. [9]
Наряду с оценкой соответствия партии приборов, выпущенных за контролируемый период, требованиям по надежности ( годности) производится определение количественных показателей надежности и обработка результатов испытаний таким образом, чтобы они могли быть использованы разработчиками аппаратуры в качестве справочных материалов. [10]
В книге рассмотрены количественные показатели надежности, методы их инженерного расчета и статистической оценки, способы повышения надежности за счет резервирования машин и аппаратов. Описан новый метод определения количественных показателей надежности резервированных аппаратов и технологических линий. [11]
Для оценки надежности полупроводниковых и гибридных БИС и МСБ весьма эффективны тестовые методы. Они основаны на определении количественных показателей надежности БИС ( МСБ) по показателям надежности структурных элементов, получаемых в результате их испытаний в составе тестовых схем. В качестве тестовых ИМС используют те же тестовые схемы, что и для контроля качества ( см. § 2.4), Поскольку тестовые ИМС содержат однотипные структурные элементы, их количество в такой ИМС достигает сотен и тысяч штук. Тем самым обеспечивается необходимый объем испытаний для получения достоверной информации при статистической обработке результатов испытаний. Тестовые ИМС подвергаются испытаниям в нормальном режиме или ускоренным испытаниям. [12]
При этом оценка надежности состоит в проведении испытаний и последующей статистической обработке результатов испытаний ( отказов) для определения количественных показателей надежности. Различают испытания ИМС в нормальном режиме и ускоренные испытания. Под нормальным понимают режим испытаний, при котором воздействующие на ИМС нагрузки не превышают предельных значений, заданных ТУ. [13]
Поэтому возникла необходимость в разработке новых методов оценки надежности ИМС ( особенно БИС и МСБ), которые позволили бы получать достоверные сведения при меньших затратах и в более короткие сроки. Эта проблема может быть решена на основе физического подхода к проблеме надежности, т.е. разработки физико-математических моделей отказов и их исследования с целью определения количественных показателей надежности. Не исключаются и вероятностно-статистические методы оценки надежности. [14]
При выборе типа полупроводникового диода следует руководствоваться целевым назначением прибора. В тех случаях, когда возникает необходимость использовать диод для выполнения функций, отличных от его основного назначения, следует предварительно измерить его параметры и провести испытания по определению количественных показателей надежности. Измерения параметров должны проводиться на установках и по методикам, рекомендуемым соответствующими техническими условиями. [15]
Страницы: 1 2