Определение - рефракция
Cтраница 3
Метод определения рефракций Н - связей основан на отклонении от аддитивности мольных рефракций в результате появления этих связей в структуре изучаемого вещества. [31]
Методика определения рефракции Н - связи опять основана на отклонении молекулярной рефракции химического соединения от аддитивности в результате образования дополнительных водородных связей. [32]
Метод определения рефракций Н - связей основан на отклонении от аддитивности мольных рефракций в результате появления этих связей в структуре изучаемого вещества. [33]
Методика определения рефракции Н - связи опять основана на отклонении молекулярной рефракции химического соединения от аддитивности в результате образования дополнительных водородных связей. [34]
 |
Автоматический рефрактометр РАН-62В. [35] |
Такая методика часто применяется для определения рефракций твердых веществ, определение плотностей которых и показателей преломления связано со значительно большими экспериментальными трудностями, чем определение таких же характеристик для жидкостей. Определения могут производиться применительно к органическим и неорганическим веществам, однако следует иметь в виду, что для растворов сильных электролитов, помимо других причин, могут иметь место отклонения от аддитивности вследствие поляризуемости ионов. [36]
 |
Рефрактометр Аббе. Слева вверху. поле зрения рефрактометра в момент отсчета показания прибора. Граница темного и светлого полей проходит через пересечение нитей. [37] |
Величина рефракции - nD данного вещества заметно изменяется как от температуры, так и от длины световой волны. В настоящее время применяют очень изящный способ определения рефракции малых количеств вещества под микроскопом. Для этого пользуются набором кристаллов стекол, имеющих определенный по. [38]
 |
Рефрактометр Аббе. С л-е ва вверху. поле зрения рефрактометра в момент отсчета показания прибора. Граница темного и светлого полей проходит через пересечение нитей. [39] |
Величина рефракции - по данного вещества заметно изменяется как от температуры, так и от длины световой волны. В настоящее время применяют очень изящный способ определения рефракции малых количеств вещества под микроскопом. [40]
Массовые профилактические мероприятия имеют еще большее значение. Они состоят в ранних профилактических офтальмологических обследованиях с определением рефракции. [41]
Суммарный ( молекулярный) эффект будет зависеть от относительной величины и скорости изменения рефракций атомов по мере их ионизации; поэтому использование в расчетах постоянного значения рефракции одного из элементов может привести как к увеличению, так и к уменьшению аддитивной рефракции другого партнера полярной связи. Последняя причина вызвала попытки эмпирического учета этого эффекта путем определения рефракций целых группировок атомов ( радикалов), в которых взаимное влияние атомов учитывается автоматически. Но этот процесс не может идти бесконечно, так как тогда мы придем к системам молекулярных рефракций и отказу от каких-либо вычислений. [42]
Обследуемому надевают пробную оправу и подгоняют по размерам лица и носа так, чтобы центры оправ соответствовали центрам зрачков. Для того чтобы не произошло путаницы, при записи результатов и назначении очков определение рефракции всегда начинают с правого глаза. Перед вторым глазом устанавливают непрозрачный экран. [43]
Последний заключается в фотографировании контуров энуклеированных глаз в трех проекциях. Оба метода составляют сущность анатомо-оптического принципа определения рефракции, с помощью которого устанавливалось соответствие оптической - преломляющей способности глаза и анатомической - длины его оси. [44]
Рассмотрены физические основы и принцип действия лазеров, применяемых в различных областях науки и техники. Приводятся сведения о передаче, формировании, модуляции, приеме и прохождении лазерного излучения в атмосфере. Значительное внимание уделено теоретическим и практическим вопросам, связанным с применением лазеров для нивелирования, измерения расстояний, автоматизации угловых измерений, определения рефракции, измерения различных физических величин и контроля изделий. [45]
Страницы: 1 2 3 4