Cтраница 2
Наиболее удобным способом определения экспозиции является пробная съемка. Пробный негатив дает наглядное представление о качестве фотографического изображения с учетом всех факторов, в том числе лабораторной обработки. [16]
Единственным критерием при определении экспозиции является характер оптического изображения. [17]
В связи с этим определение экспозиции расчетным путем весьма затруднено. [18]
![]() |
Калибровочные кривые для различных аналитических линий. [19] |
Сущность рассмотренных методов сводится к определению экспозиций, на которых линии элемента основы и примесей дают одинаковые факторы пропускания. В дальнейшем отношение экспозиции вносится в равенство (3.13), устанавливающее, что при соответствующих поправках отношение экспозиций при равных факторах пропускания пропорционально отношению концентраций. [20]
Из сказанного следует, что при определении экспозиции по измерению общей ( интегральной) яркости объекта могут быть допущены определенные ошибки и этот метод можно рекомендовать только для черно-белой съемки. [21]
Как и при изготовлении промежуточного позитива, для определения экспозиции следует произвести пробу на полоске пленки. [22]
Рассмотрим на примере, как пользоваться этим графиком для определения экспозиции. [23]
Визуальный экспонометр со сравнением яркостей ( рис. 135) предназначен для определения экспозиции в сложных условиях освещенности непосредственно от места съемки. Он позволяет, наблюдая за объектом в целом, определять экспозицию по его элементам. [24]
В последние годы появилось большое количество фотоаппаратов со специальными устройствами, облегчающими определение экспозиции и даже автоматически устанавливающими необходимую комбинацию выдержки и диафрагмы. [25]
Вторая задача, которая не упоминалась Хеннеем, связана с монитором для определения экспозиции по ионам, образующимся из кремнезема. В нашем случае ток, обусловленный ионами основного изотопа 28Si % попадает на коллектор С, накапливается там, и сигнал от этих ионов используется для управления потенциалом пластины, определяющей интенсивность ионного пучка. Кроме того, монитор измеряет полный ионный ток. Таким образом, имеется возможность оценить относительные доли ионов, образующихся из кремния и из проводника. [26]
![]() |
Типичные кривые спектральной чувствительности. [27] |
Посмотрим теперь, как кривую спектральной чувствительности на рис. 8 можно использовать для определения экспозиции, необходимой для создания оптической плотности 1 0 на длине волны 488 нм. [28]
Из всех известных способов наиболее точным и приемлемым для цветной съемки считается способ определения экспозиции по результатам замера освещенности или яркости сюжетно важной части объекта с помощью фотоэлектрических экспонометров. [29]
Однако необходимо иметь в виду, что при этом существенно возрастают требования к точности определения экспозиции и к равномерности освещения объекта съемки. [30]