Cтраница 4
В частности, при кратном ударе, когда одновременно обращаются в равенства сразу несколько неравенств ( 2), корректное определение функции I ( q, q -), вообще говоря, невозможно. [46]
Поскольку разрешающая способность электронного микроскопа зависит не только от аберраций объективной линзы, но и от длины волны электронов Я, корректное определение этого параметра возможно только на основе законов волновой оптики. Методом фурье-преобразова-ний наблюдаемый в микроскопе объект представляют набором структурных составляющих с разл. [47]
Полнота интерпретации получаемых при испытании элементов конструкций результатов обусловлена использованием инструментированных методов их проведения и в первую очередь возмож -, ностью корректного определения полей температур и деформаций. Задача осложняется высокими, как правило, температурами и работой материала с максимальными напряжениями за пределами упругости при малоцикловом нагружении. Наличие среды ( потоков газа и жидкости высоких энергий и значений параметров) делает актуальной разработку методов измерения напряжений деформаций и температур в указанных условиях с применением соответствующей защиты датчиков. [48]
Пусть при tZ С t0, где t0 tph рождение частиц отсутствует и включается лишь в момент t0, когда квантовое состояние поля допускает корректное определение методом диагонализации гамильтониана. При t t0 самосогласованная задача (12.2) уже имеет смысл. [49]