Cтраница 1
Оптика приборов, предназначенных для видимой области спектра, изготовляется из стекла. В ультрафиолетовой области основным материалом для изготовления линз служит кристаллический кварц. Чтобы уменьшить влияние двойного лучепреломления, линза вырезается из монокристалла кварца перпендикулярно его оптической оси. [1]
![]() |
Спектропроек-тор Цейсса.| Двойной спектропроектор [ III, 123 ]. 1 - лампа, 2, 4. [2] |
Оптика прибора дает 20х увеличение спектрограммы на экране. Перемещение спектрограммы осуществляется в двух взаимно перпендикулярных направлениях и может быть отсчитано по шкале. Это позволяет производить и измерение расстояний между линиями с точностью порядка 0 01 мм. Аналогичные проекторы выпускаются также Фюссом, Бауш и Ломбом и другими фирмами. [3]
Оптика приборов, предназначенных для видимой области спектра, изготовляется из стекла. В ультрафиолетовой области основным материалом для изготовления линз служит кристаллический кварц. Чтобы уменьшить влияние двойного лучепреломления, линза вырезается из монокристалла кварца перпендикулярно его оптической оси. [5]
Расчет и изготовление оптики приборов с относительным отверстием меньше 1 / 10 не представляет затруднений. [6]
Расчет и изготовление оптики приборов с относительным отверстием меньше 1 / 10 не представляет затруднений. Для приборов с относительным отверстием более 1 / 5 приходится применять многолинзовые объективы, а иногда асферические линзы и зеркала. [7]
![]() |
К выводу соотношения между угловой и линейной дисперсией. [8] |
По практическим соображениям оптику прибора стараются рассчитать так. [9]
Общее основание для всей оптики прибора обеспечивает необходимую жесткость конструкции и юстировку закрепленных на нем деталей. [10]
С - постоянная, зависящая от оптики прибора, и Vj - напряжение на пластинах электростатического анализатора. Источники напряжений Va и Vd должны соответствовать приведенному соотношению, причем при их изменении время установления равновесия должно быть невелико; в противном случае изменения Va будут автоматически компенсироваться за счет Vi. Желательно иметь возможность измерения Va. Va с высокой точностью, чтобы быть уверенными, что исключены как кратковременные флуктуации, так и дрейф источников напряжения. [11]
При селективном излучении и при значительном поглощении лучей оптикой прибора, введение поправки невозможно. Поэтому поправку на неполноту излучения при пользовании радиационным пирометром обычно не вводят. [12]
Кювета, в которую помещается образец, и оптика абсорбционного прибора должны быть прозрачными для падающего излучения. В соответствии с этим стеклянные детали, подходящие для фотоколориметрических исследований в видимой области, следует заменить кварцем, если отсчеты необходимо проводить и в области ультрафиолета. [13]
Качество спектра, даваемое прибором, определяется всей оптикой прибора в целом. Схема спек-обязательно хорошее каче - трального прибора ство спектра при любых дис - с зеркально-линзо-пергирующих системах. [14]
Конструкция безрефлексного офтальмоскопа обеспечивает фиксированное положение исследуемого глаза относительно оптики прибора. [15]