Электронная оптика
Cтраница 3
В электронной оптике корень квадратный из потенциала играет ту же роль, что и показатель преломления среды в геометрической оптике. Пользуясь законом преломления ( 7 - 1), можно графо-аналитпческим способом приближенно построить траекторию движения электрона в неравномерном поле, разбив поле эквипотенциальными линиями на ряд областей, потенциалы внутри которых неизменны. [31]
 |
Одиночная ( о и иммерсионные ( б и в линзы и распре деление потенциала в них. [32] |
В электронной оптике, как и в геометрической, в качестве показателя преломления используется отношение скорости движения электрона к скорости света с. Поэтому в ( 7 - 7) вместо показателей преломления nl и и2 нужно подставить скорости электронов в двух средах или же эквивалентные им значения потенциалов. [33]
 |
Тонкая магнитная линза. [34] |
В электронной оптике иногда используются как отдельные оптические элементы электронные зеркала, образованные электродами плоской или вогнутой формы с потенциалом, равным нулю или несколько меньше нуля, помещенными внутрь цилиндра с положительным потенциалом. В электроннолучевых приборах электронные зеркала применяются редко, главным образом из-за больших аберраций, особенно из-за хроматической аберрации, что затрудняет получение удовлетворительных электронно-оптических изображений. [35]
В теории электронной оптики широко используются принципы геометрической световой оптики, однако нельзя забывать о важных практических различиях электронного и светового микроскопов. Во-первых, оптические линзы могут быть гораздо совершеннее электронных: угол фокусировки электронных линз во много раз меньше, чем у оптических. Во-вторых, электроны сильно поглощаются и рассеиваются веществом и когерентно отражаются поверхностью только при малых углах падения. Таким образом, в электронном микроскопе нельзя получить пучка электронов, падающих строго вертикально, и на просвет могут быть исследованы только очень тонкие объекты. [36]
Разрешающая способность электронной оптики, как и световой, зависит от длины волны облучения. [37]
 |
Схема электростатической фокусировки луча.| Схема магнитной фокусировки луча. [38] |
Описанный тип электронной оптики обеспечивает глубокую модуляцию тока пучка при минимальных потенциалах управляющего электрода без существенного нарушения величины пятна на экране. [39]
Разрешающая способность электронной оптики, как и световой, зависит от длины волны облучения. [40]
Основные уравнения электронной оптики вида (3.29) и (3.30) получены В. Н. Верцнер ом. [41]
Однако качество современной электронной оптики в электронных микроскопах не позволяет пользоваться аппертурным углом больше 0 003 радиана. Это дает при оптимальном потенциале порядка 30 - 40 кв максимальную разрешающую способность электронного микроскопа в 10 А. Практически разрешающая способность электронного микроскопа лежит в пределах 100 - 50 А. [42]
Лишь применение специальной электронной оптики позволяет спуститься ниже 100 пс. [44]
Поэтому в электронной оптике корень квадратный из потенциала играет ту же роль, что показатель преломления среды п геометрической оптике. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5